裂紋尖端衍射信號(hào)弱且亂，無(wú)法提取

請(qǐng)問(wèn)各位大佬，采用相控陣探頭只能檢測(cè)到裂紋的端點(diǎn)衍射信號(hào)，無(wú)法接收到鏡面反射，這種情況怎么判定是裂紋還是孔狀缺陷呢？我看在TOFD里裂紋的上下端點(diǎn)滿足一定的相位信息，但是我采集到的信號(hào)實(shí)在太過(guò)雜亂，很難分析相位差，請(qǐng)問(wèn)大家可以提供什么方法或者資料么？

本人是個(gè)新手小白，頂

我使用的是一個(gè)探頭自發(fā)自收，并不是TOFD里面的兩個(gè)探頭

請(qǐng)各位大佬指點(diǎn)

相控陣測(cè)高嗎？孔和裂紋不是主要看長(zhǎng)度嗎？
相控陣這個(gè)聚焦法則太多，應(yīng)該很復(fù)雜，相控陣一般也不用平均，是不是雜波的一個(gè)原因。
這兩個(gè)方法原理都不一樣，有難度。

遠(yuǎn)東網(wǎng) 發(fā)表于 2023-5-31 11:52
相控陣測(cè)高嗎？孔和裂紋不是主要看長(zhǎng)度嗎？
相控陣這個(gè)聚焦法則太多，應(yīng)該很復(fù)雜，相控陣一般也不用平均， ...

不試測(cè)高，是測(cè)裂紋長(zhǎng)度，目前只能檢測(cè)到端點(diǎn)，想要對(duì)其定量

遠(yuǎn)東網(wǎng) 發(fā)表于 2023-5-31 11:52
相控陣測(cè)高嗎？孔和裂紋不是主要看長(zhǎng)度嗎？
相控陣這個(gè)聚焦法則太多，應(yīng)該很復(fù)雜，相控陣一般也不用平均， ...

我只是想用相控陣來(lái)采集信號(hào)，這里的信號(hào)并沒(méi)有用到聚焦法則，是用其中的一個(gè)探頭發(fā)射和接收到的信號(hào)，想要用全聚焦的方法最后實(shí)現(xiàn)成像

好像是可以用機(jī)器學(xué)習(xí)來(lái)分類(lèi)

頂頂頂頂頂