關(guān)于試塊問題

不知道大家有沒有碰到過天天要用的試塊（一組同一材質(zhì)同一廠家不同厚度），在用低頻探頭測厚度時達某一基準波高（例如80％）能用，而用高頻探頭測厚時卻發(fā)現(xiàn)厚的能測（例如220mm）薄的測厚時都衰減了（例如110mm），只有時基線顯示。整個測試過程分貝值沒變。請問大家這組同材質(zhì)不同厚度的長橫孔試塊我該用什么方法來解決現(xiàn)場實際探傷的校準（長橫孔探傷校準）？