關(guān)于超聲檢測中的掃查覆蓋率的討論

標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013-2015第4.5.2條關(guān)于掃查覆蓋的規(guī)定：為確保超聲檢測時(shí)，超聲聲束能掃查到工件整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足相關(guān)章節(jié)的檢測覆蓋要求；其他超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)如GB/T6402-2008關(guān)于掃查覆蓋率的規(guī)定，也大致差不多都是規(guī)定為探頭直徑或?qū)挾鹊?0%或者是15%；問題一：如果按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的掃查覆蓋率，進(jìn)行100%掃查，比如用GE的B2S探頭（晶片直徑Φ24，頻率2MHz，掃查間距為20mm，掃查覆蓋率=（24-20）/24=16.6%≥15%）是否就不存在漏檢？問題二：標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于掃查覆蓋的規(guī)定是否嚴(yán)謹(jǐn)？問題三：如果存在漏檢，如何從工藝上規(guī)避這種情況？

ASME成立于1911年，我相信他對(duì)超聲波檢測原理的理解！！！！！

應(yīng)為探傷主聲束的覆蓋，不是晶片尺寸覆蓋

周大濕我是這樣理解的，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的只是說這樣覆蓋率達(dá)到了100%，覆蓋率達(dá)100%并不能保證肯定不漏檢，漏檢的因素很多，覆蓋率只是其中之一。

個(gè)人理解，如果是鋸齒型掃查，只是最大掃查間距為15%，其他位置都大于15%，應(yīng)該能滿足聲束的覆蓋

1154850602 發(fā)表于 2017-3-14 11:09
周大濕我是這樣理解的，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的只是說這樣覆蓋率達(dá)到了100%，覆蓋率達(dá)100%并不能保證肯定不漏檢，漏檢的 ...

這里所謂的漏檢 不是只因技術(shù)局限性的原因而未檢出 是指因工藝原因?qū)е碌穆z

看下B2S的聲束圖，來回答這三個(gè)問題
1.只能保證有效尺寸的全表面掃查，不能保證工件內(nèi)的全體積掃查
2.不是很嚴(yán)謹(jǐn)
3.進(jìn)行聲束最小寬度掃查，能保證全體積掃查
個(gè)人觀點(diǎn)，僅作參考

關(guān)于掃查覆蓋率的問題已經(jīng)有同行回答了，個(gè)人再總結(jié)一下：1 按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的掃查覆蓋率，用B2S檢測肯定會(huì)有漏檢；2 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的掃查覆蓋率很不嚴(yán)謹(jǐn) ：個(gè)人覺得這樣規(guī)定應(yīng)該更嚴(yán)謹(jǐn)：相鄰兩次掃查之間至少能保證工件被檢區(qū)域內(nèi)最小聲束寬度有15%（或10%）的重疊。3 在檢測前應(yīng)實(shí)測最小聲束寬度，并按最小聲束寬度的掃查覆蓋率進(jìn)行掃查

頂頂頂

上面的結(jié)論，需要大量的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證其正確性！！！

王緒軍 發(fā)表于 2017-7-7 19:51
上面的結(jié)論，需要大量的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證其正確性！！！

超聲檢測的覆蓋是超聲場的覆蓋，換句話說也就是聲束的覆蓋 而不是探頭尺寸的覆蓋 完全是兩個(gè)概念。無需大量試驗(yàn) 用一個(gè)B2S或者B4S 探頭 加上一個(gè)近場區(qū)距離埋深的平底孔試塊即可驗(yàn)證

沒有探頭尺寸大小，哪有超聲聲束的的大小呢？聲束最小寬度與探頭尺寸大小和頻率等是有關(guān)系，GE探傷手冊(cè)有很多圖。ASME規(guī)定至少晶片尺寸的10%，我國修改為至少探頭尺寸的15%，但是ASME后面還有，我們沒有抄襲全面。awsd1.1直接要求50%。要推翻現(xiàn)成的理論，需要大量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，不能夠信口開河。