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“X射線探傷 像質(zhì)計(jì)選線徑是 要算余高不?” 關(guān)于這個(gè)問題在“JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》學(xué)習(xí)指南”(與JB/T4730-2005配套學(xué)習(xí))一書中第31頁的第27個(gè)問題有非常明確的回答。但在NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)中沒有說得很明確,對(duì)此,網(wǎng)上說法不一,爭論不休,請(qǐng)強(qiáng)天鵬老師把這個(gè)問題明確一下:按NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn),X射線檢測(cè)時(shí),選用像質(zhì)計(jì)徑要不要算余高??希望NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)也有一個(gè)跟JB/T4730-2005一樣,有一個(gè)跟標(biāo)準(zhǔn)相配套學(xué)習(xí)的《學(xué)習(xí)指南》,對(duì)一些基本概念和術(shù)語加以權(quán)威的界定。
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