相控陣高溫檢測(cè)實(shí)際應(yīng)用案例分析

在不關(guān)閉工業(yè)系統(tǒng)條件下進(jìn)行有害缺陷檢測(cè)越來越受到重視。高溫相控陣檢測(cè)方法(HTGPAUT)的應(yīng)用展現(xiàn)出了高溫檢測(cè)與常溫檢測(cè)的很好相關(guān)性。

我們近期推出了高溫相控陣檢測(cè)系統(tǒng)HTGPAUT。該高溫檢測(cè)系統(tǒng)的特點(diǎn)是，楔塊能夠在350℃高溫條件下持續(xù)工作，擁有類似水夾套的散熱器，保證相控陣探頭在安全的溫度下工作

高溫檢測(cè)的難點(diǎn)

• 溫度變化導(dǎo)致檢測(cè)工件內(nèi)聲速變化，如碳鋼隨溫度身高，聲速降低。
• 楔塊溫度變化考慮
• 常溫狀態(tài)聲束覆蓋和高溫狀態(tài)聲束覆蓋的相關(guān)性
• 隨著楔塊溫度變化，入射點(diǎn)和入射角發(fā)生變化，（如Figure 2）
• 缺陷位置和深度的變化(如Figure 3.)
  

實(shí)際應(yīng)用-高溫檢測(cè)

2015年，進(jìn)行了一個(gè)實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)工作，對(duì)一個(gè)大約190℃的在役高溫壓力容器進(jìn)行檢測(cè).之前2014年對(duì)該設(shè)備進(jìn)行了一次常溫檢測(cè)。在2014年的檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)了一個(gè)較大的缺陷，這次再檢測(cè)的目的是監(jiān)測(cè)之前檢測(cè)到的缺陷的變化并進(jìn)行對(duì)比。

總結(jié)

2015年檢測(cè)的結(jié)果與2014年常溫檢測(cè)結(jié)果相關(guān)性很好。檢測(cè)系統(tǒng)的校準(zhǔn)是根據(jù)檢測(cè)工件溫度進(jìn)行的，消除高溫條件下聲束變化對(duì)缺陷位置和深度的影響。通過相控陣設(shè)備形成聲束聚焦法則.有的設(shè)備，如 OmniScan 聚焦法則可以導(dǎo)出修改并重新導(dǎo)入設(shè)備。這一功能在楔塊內(nèi)波束路徑線性近似不正確的情況下（高溫檢測(cè)）可以用到。

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恒星的恒心 發(fā)表于 2017-5-4 16:18
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