關(guān)于雙晶探頭的使用，望各位師傅給我解惑。

  以前沒(méi)有使用過(guò)雙晶探頭，網(wǎng)上相關(guān)的資料也比較少，比較模糊，希望有經(jīng)驗(yàn)的前輩指點(diǎn)迷津。
  1、雙晶探頭存在一定的檢測(cè)盲區(qū)，使用對(duì)比試塊知道探頭可探測(cè)最淺的平底孔深度，那盲區(qū)的問(wèn)題是否只能最小化，而無(wú)辦法避免。因?yàn)殡p晶探頭的特性，制作DAC曲線時(shí)，是采用三點(diǎn)（記得看到過(guò)，但是暫時(shí)沒(méi)有探頭，無(wú)法實(shí)驗(yàn)），還是挨個(gè)平底孔標(biāo)記做曲線。
  2、由于探頭晶片與探測(cè)面成一定角度，所以在直徑大于200mm的厚、薄管件表面是否可用作軸，周兩個(gè)方向的掃查，還是軸向用斜探頭比較好一點(diǎn)。
  3、探頭F的選擇為板厚T的一半或稍多一點(diǎn)是否合適。
  4、在管材、鍛筒件檢測(cè)中，雙晶斜探頭的F該如何選擇，是否以探頭K值對(duì)應(yīng)的聲程來(lái)確定，其靈敏度調(diào)節(jié)沒(méi)有找到標(biāo)準(zhǔn)是說(shuō)的比較明白的，好像是說(shuō)，比噪聲信號(hào)比大1-3MM什么的，不明白。還是也用平底孔對(duì)比試塊做曲線。
        雙晶斜探頭是否只能接收菱形區(qū)內(nèi)的缺陷信號(hào)，二次波的就接收不到了，也就是說(shuō)外表面的缺陷就檢測(cè)不到了。
        另外，鍛筒件軸向掃查時(shí)，可以用與工件軸向平行的平底孔做DAC曲線嗎？讓孔與探頭掃查方向平行（筒件）

楓林晚 發(fā)表于 2013-9-15 20:17
第一點(diǎn)：雙晶直探頭的盲區(qū)，可以用盲區(qū)試塊實(shí)測(cè)，或者有其他的有效的試塊實(shí)測(cè)；至于做DAC曲線要測(cè)多少個(gè)點(diǎn) ...

謝謝，{:soso_e142:}

回答真詳細(xì)學(xué)習(xí)了

{:soso_e100:}

{:soso_e179:}，值得學(xué)習(xí)。

原來(lái)是這樣啊

{:soso_e163:}

楓林晚 發(fā)表于 2013-9-15 20:17
第一點(diǎn)：雙晶直探頭的盲區(qū)，可以用盲區(qū)試塊實(shí)測(cè)，或者有其他的有效的試塊實(shí)測(cè)；至于做DAC曲線要測(cè)多少個(gè)點(diǎn) ...

雙晶探頭和普通直探頭有什么不同呢？還請(qǐng)專(zhuān)家詳解，謝謝！

{:soso_e163:}

學(xué)習(xí)了