關于超聲檢測中的掃查覆蓋率的討論

標準NB/T47013-2015第4.5.2條關于掃查覆蓋的規定：為確保超聲檢測時，超聲聲束能掃查到工件整個被檢區域，探頭的每次掃查覆蓋應大于探頭直徑或寬度的15%或優先滿足相關章節的檢測覆蓋要求；其他超聲檢測標準如GB/T6402-2008關于掃查覆蓋率的規定，也大致差不多都是規定為探頭直徑或寬度的10%或者是15%；問題一：如果按照標準規定的掃查覆蓋率，進行100%掃查，比如用GE的B2S探頭（晶片直徑Φ24，頻率2MHz，掃查間距為20mm，掃查覆蓋率=（24-20）/24=16.6%≥15%）是否就不存在漏檢？問題二：標準關于掃查覆蓋的規定是否嚴謹？問題三：如果存在漏檢，如何從工藝上規避這種情況？

ASME成立于1911年，我相信他對超聲波檢測原理的理解！！?。?！

應為探傷主聲束的覆蓋，不是晶片尺寸覆蓋

周大濕我是這樣理解的，標準規定的只是說這樣覆蓋率達到了100%，覆蓋率達100%并不能保證肯定不漏檢，漏檢的因素很多，覆蓋率只是其中之一。

個人理解，如果是鋸齒型掃查，只是最大掃查間距為15%，其他位置都大于15%，應該能滿足聲束的覆蓋

1154850602 發表于 2017-3-14 11:09
周大濕我是這樣理解的，標準規定的只是說這樣覆蓋率達到了100%，覆蓋率達100%并不能保證肯定不漏檢，漏檢的 ...

這里所謂的漏檢 不是只因技術局限性的原因而未檢出 是指因工藝原因導致的漏檢

看下B2S的聲束圖，來回答這三個問題
1.只能保證有效尺寸的全表面掃查，不能保證工件內的全體積掃查
2.不是很嚴謹
3.進行聲束最小寬度掃查，能保證全體積掃查
個人觀點，僅作參考

關于掃查覆蓋率的問題已經有同行回答了，個人再總結一下：1 按標準規定的掃查覆蓋率，用B2S檢測肯定會有漏檢；2 標準規定的掃查覆蓋率很不嚴謹 ：個人覺得這樣規定應該更嚴謹：相鄰兩次掃查之間至少能保證工件被檢區域內最小聲束寬度有15%（或10%）的重疊。3 在檢測前應實測最小聲束寬度，并按最小聲束寬度的掃查覆蓋率進行掃查

頂頂頂

上面的結論，需要大量的實驗驗證其正確性！??！

王緒軍 發表于 2017-7-7 19:51
上面的結論，需要大量的實驗驗證其正確性?。?！

超聲檢測的覆蓋是超聲場的覆蓋，換句話說也就是聲束的覆蓋 而不是探頭尺寸的覆蓋 完全是兩個概念。無需大量試驗 用一個B2S或者B4S 探頭 加上一個近場區距離埋深的平底孔試塊即可驗證

沒有探頭尺寸大小，哪有超聲聲束的的大小呢？聲束最小寬度與探頭尺寸大小和頻率等是有關系，GE探傷手冊有很多圖。ASME規定至少晶片尺寸的10%，我國修改為至少探頭尺寸的15%，但是ASME后面還有，我們沒有抄襲全面。awsd1.1直接要求50%。要推翻現成的理論，需要大量的實驗數據，不能夠信口開河。