關于雙晶探頭的使用，望各位師傅給我解惑。

  以前沒有使用過雙晶探頭，網上相關的資料也比較少，比較模糊，希望有經驗的前輩指點迷津。
  1、雙晶探頭存在一定的檢測盲區，使用對比試塊知道探頭可探測最淺的平底孔深度，那盲區的問題是否只能最小化，而無辦法避免。因為雙晶探頭的特性，制作DAC曲線時，是采用三點（記得看到過，但是暫時沒有探頭，無法實驗），還是挨個平底孔標記做曲線。
  2、由于探頭晶片與探測面成一定角度，所以在直徑大于200mm的厚、薄管件表面是否可用作軸，周兩個方向的掃查，還是軸向用斜探頭比較好一點。
  3、探頭F的選擇為板厚T的一半或稍多一點是否合適。
  4、在管材、鍛筒件檢測中，雙晶斜探頭的F該如何選擇，是否以探頭K值對應的聲程來確定，其靈敏度調節沒有找到標準是說的比較明白的，好像是說，比噪聲信號比大1-3MM什么的，不明白。還是也用平底孔對比試塊做曲線。
        雙晶斜探頭是否只能接收菱形區內的缺陷信號，二次波的就接收不到了，也就是說外表面的缺陷就檢測不到了。
        另外，鍛筒件軸向掃查時，可以用與工件軸向平行的平底孔做DAC曲線嗎？讓孔與探頭掃查方向平行（筒件）

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學習了謝謝

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學習了

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楓林晚 發表于 2013-9-15 20:17
第一點：雙晶直探頭的盲區，可以用盲區試塊實測，或者有其他的有效的試塊實測；至于做DAC曲線要測多少個點 ...

雙晶探頭和普通直探頭有什么不同呢？還請專家詳解，謝謝！

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