NB/T47013——答疑解惑

2015-10-3 16:52:29

祝彥君發表于 2015-10-3 10:08
閻老師，超聲部分,公司只有CSKIIIA的情況，怎樣把靈敏度修正到CSKIIA的靈敏度？標準沒講怎樣修正 ...

由于CSK-ⅡA試塊和CSK-ⅢA試塊靈敏度曲線之間的差異隨探頭晶片尺寸。標稱頻率、K值的不同而有變化，故標準未給具體數值，這要求檢測人員根據所用探頭進行測試。謝謝。

2015-10-3 16:53:01

877910715 發表于 2015-10-3 16:52
由于CSK-ⅡA試塊和CSK-ⅢA試塊靈敏度曲線之間的差異隨探頭晶片尺寸。標稱頻率、K值的不同而有變化，故標 ...

由于CSK-ⅡA試塊和CSK-ⅢA試塊靈敏度曲線之間的差異隨探頭晶片尺寸、標稱頻率、K值的不同而有變化，故標準未給具體數值，這要求檢測人員根據所用探頭進行測試。謝謝。

好夢成真 · 2015-10-4 14:14:50

本帖最后由好夢成真于 2015-10-4 14:29 編輯

877910715 發表于 2015-10-3 09:44
謝謝
20mm和45mm分別指板材厚度或鍛件檢測方向上的厚度。在此厚度范圍內用雙晶直探頭進行檢測，主要是探 ...

對于老師們這么及時解答我的疑問，在此表示衷心的感謝！并向假日里仍然工作老師們致以崇高的敬禮，并祝節日愉快！

好夢成真 · 2015-10-4 14:40:17

877910715 發表于 2015-10-3 09:35
按5.4.7.1的規定，應評為1級。

既復合板坡口邊緣和預訂線兩側的未結合區域的單個缺陷的長度評定只有1,和4級，沒有2和3級，謝謝

朱從斌 · 2015-10-4 22:55:42

祝彥君發表于 2015-10-2 16:53
強總，您好，向您討教個問題，有很多朋友提出新標準射線附錄F小于R的那公式有錯誤，從三角形的正弦定理推導 ...

F小于R內部透照時，定位標記放置于射線源側。標準中關于F小R時透照次數的計算公式是正確的，應是內徑，不是外徑，推導比較復雜，具體的推導過程見附件。

2015-10-5 13:19:21

NB/T47013.4中：4.12.4 反差增強劑
為增強對比度，經標準試片驗證顯示合格后，可以使用反差增強劑。
我們知道，如同本標準4.11.1條款中所說，標準試片是檢驗磁粉檢測設備及磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度）。它不是檢驗被檢工件的“檢測靈敏度”，換言之，這個系統靈敏度與工件本身或工件的表面狀態無關。
使用反差增強劑后，應該說是改變了工件的表面狀態或對比度，也就是它只與工件靈敏度或工件表面的磁場狀況相關，而不是與系統靈敏度相關。試片驗證顯示合格后，就可使用反差增強劑無理論支持。
因此本人覺得此處應該還是05版標準3.11.1條的規定更為符合磁粉檢測的基本理論：如果被檢工件表面殘留有涂層，當涂層厚度均勻不超過0.05mm，且不影響檢測結果時，經合同各方同意，可以帶涂層進行磁粉檢測。
包括4.12.1條，對非導電涂層使用標準試片驗證的作用及效力，也是同樣一個道理，有同樣疑問。
若有不當之處請各位專家斧正。

祝彥君 · 2015-10-5 13:27:35

本帖最后由祝彥君于 2015-10-5 13:43 編輯

謝謝朱工，夠仔細的，一步一步推導，推導是一樣的，我們把f搞錯了，其實它的定義是射線源到工件表面距離，不是到膠片距離。

祝彥君 · 2015-10-5 18:40:07

本帖最后由祝彥君于 2015-10-5 18:45 編輯

現在新標準里有個操作指導書，是不是老的工藝卡模版就不要了，要重新編制操作指導書模版了，望專家指教

朱從斌 · 2015-10-5 22:38:32

祝彥君發表于 2015-10-5 18:40
現在新標準里有個操作指導書，是不是老的工藝卡模版就不要了，要重新編制操作指導書模版了，望專家指教 ...

從標準的角度，對操作指導書的格式或模版沒有強制規定，以工藝卡或者其他形式均可，但相關的內容和要求應滿足NB/T 47013標準各部分對操作指導書的要求。

zhaohong--棗莊 · 2015-10-6 10:21:45

老師您好，NB/T47013 .1通用要求中4.3.1.2采用射線檢測，超聲檢測，衍射時差法超聲檢測和X射線數字成像檢測等無損檢測方法檢測對接焊接接頭時，。。。。。。。。。。。。。將其檢測技術等級分為若干級別。在哪里能查到衍射時差法超聲檢測的技術等級啊

[請教] NB/T47013——答疑解惑

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