探頭的入射點，真的在探頭上么？

天才無憂 發表于 2013-3-10 15:12
真正的入射點其實是在工件表面，我們實際測得的入射點就是工件表面的。
不過耦合劑厚度都這么小，沒必要這 ...

請問你實際測得的入射點在工件表面上，是怎么測得的？

這個問題比較復雜。當探頭在試塊上測試時的耦合劑層厚度與在工件上探測時的厚度一致時，情況會是怎么樣，厚度不一時，又會怎么樣。誤差可能不同。

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入射點的意義：用來按聲程和角度進行顯示的定位。
嚴格講，入射點并不是一個理論的點，因為聲束具有一定的寬度，從而，實際入射點的具體位置并不重要。
在測量中為了簡化，我們僅假設回波來自聲束軸向上，故此時可采用簡單的方法進行軸線中心線的入射點測量。

贊同丁老師的意見

謝謝李老師和丁老師

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探頭晶片發出的聲波不是一條直線，而是一束波。檢測時為了計算和定位方便而近似看成一直線在傳播，入射點不在探頭上，而是在被檢工件上。

{:soso_e163:}

    通常說的“（斜）探頭的入射點” ，是指有耦合劑的情況下，實測的入射點，一般是在IIW或CSK-1A試塊上，在對應R100圓柱曲面上測定的，即根據試塊上R100圓柱的圓心標定的。入射點雖然標在探頭上，實則代表工件上相應的入射點。我常稱這種方法為“刻舟求劍” 。所以，實測的探頭的入射點，并不是探頭(楔抉) 傾斜縱波聲軸的真正入射點，或者說，實測的探頭入射點，雖然標識在探頭上，但實際并不在探頭上。假如聲束向左下傾斜，真正入射點應在實測探頭入射點的右側，二者有很小偏差P，P的大小與聲束傾角和耦合層厚度有關。
    討論這個問題的目的，主要想探討耦合薄層，對傾斜入射縱波折射是否有影響，是否影響缺陷準確定位。