雙晶探頭

1.請(qǐng)問(wèn)雙晶直探頭  、縱波雙晶斜探頭如何測(cè)探頭參數(shù)（聲速、零點(diǎn)、前沿等） ，縱波雙晶斜探頭還是使用一般的CSKIA、IIIA試塊么 ？雙晶直探頭測(cè)聲速用25mm大平底可以么 ？ 我做了一下，一點(diǎn)波都沒(méi)有！
    【 主要用于堆焊層檢測(cè)】


2.數(shù)字機(jī)設(shè)置時(shí)，選擇探頭形式，雙晶直探頭  、雙晶斜探頭都選擇雙晶探頭模式么，友聯(lián)機(jī)器PXUT350+不分直探頭和斜探頭，只有雙晶探頭一個(gè)選項(xiàng)！？
   第一次做堆焊層檢測(cè)，求教！！探頭：2.5P 5*10*2K2.75F3  斜
       2.5Φ14 FG3    直

你問(wèn)下友聯(lián)的技術(shù)員怎么調(diào)

樓主，看了你的探頭型號(hào)，檢測(cè)深度在3mm左右，你用25mm的試塊效驗(yàn)？應(yīng)該用階梯試塊吧？

大愛(ài)人間 發(fā)表于 2015-8-15 08:31
樓主，看了你的探頭型號(hào)，檢測(cè)深度在3mm左右，你用25mm的試塊效驗(yàn)？應(yīng)該用階梯試塊吧？ ...

昨天又試了3mm階梯試塊，屏幕顯示的波形根部非常的寬（就像單晶直探頭檢薄板，雙晶好像沒(méi)有優(yōu)勢(shì)啊？？），兩個(gè)波就占滿的屏幕，個(gè)人覺(jué)得還是沒(méi)有檢測(cè)價(jià)值啊？怎么搞？是不是用聚焦3mm的探頭檢測(cè)非常困難？ 另外斜探頭也是3mm的，用什么試塊測(cè)斜探頭縱波聲速，前沿？？cskIA不可以用吧？

樓主，我覺(jué)得檢測(cè)3mm的近表面缺陷，可以用其他探頭，表面波，爬波。我沒(méi)有用過(guò)，請(qǐng)指教！覆層檢測(cè)沒(méi)有接觸過(guò)，可以參照J(rèn)B/T4730.3和ASME規(guī)范來(lái)做，要有試塊或參照工件完好復(fù)合部位對(duì)比。要是覆層與基材阻抗差別大，就難檢了。  沒(méi)有做過(guò)，請(qǐng)指導(dǎo)！

樓主這個(gè)是要按照47013標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)嗎？薄板的話，這些探頭分辨力不行吧

dongxuliu123 發(fā)表于 2015-8-18 23:19
樓主這個(gè)是要按照47013標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)嗎？薄板的話，這些探頭分辨力不行吧

4730標(biāo)準(zhǔn)，3mm不銹鋼堆焊層檢測(cè)，要求檢測(cè)堆焊層

Asher 發(fā)表于 2015-8-20 09:48
4730標(biāo)準(zhǔn)，3mm不銹鋼堆焊層檢測(cè)，要求檢測(cè)堆焊層

3mm的堆焊層，要求從堆焊層一側(cè)對(duì)其檢測(cè)，考慮到板很薄，一般的雙晶直探頭在聚焦在3mm時(shí)分辨率和信噪比都達(dá)不到要求，因此可以考慮70度雙晶縱波斜探頭，聚焦在3mm左右，頻率可以選擇4-5MHZ.另外想了解下，基材的厚度。

dongxuliu123 發(fā)表于 2015-8-20 18:58
3mm的堆焊層，要求從堆焊層一側(cè)對(duì)其檢測(cè)，考慮到板很薄，一般的雙晶直探頭在聚焦在3mm時(shí)分辨率和信噪比都 ...

     基材66mm 、132mm都有，有雙晶斜探頭2.5P 5*10*2K2.75F3就是您說(shuō)的70°雙晶縱波斜探頭，就是不知道此探頭怎么測(cè)聲速、前沿、實(shí)際K值？   用什么試塊？
       最近測(cè)試雙晶直探頭，貌似可以檢出試塊未結(jié)合區(qū)域，但是深度顯示錯(cuò)誤，然而又確實(shí)有缺陷波，什么原因？

Asher 發(fā)表于 2015-8-24 10:30
基材66mm 、132mm都有，有雙晶斜探頭2.5P 5*10*2K2.75F3就是您說(shuō)的70°雙晶縱波斜探頭，就是不知道 ...

使用雙晶探頭需要在儀器中把脈沖反射法改為雙晶。雙晶縱波斜探頭的校準(zhǔn)方法類(lèi)似于橫波斜探頭，試塊使用CSK-1A就可以。但是由于前者在工件中還有橫波的成分，所以需要仔細(xì)的區(qū)分正確的縱波反射。雙晶直探頭比較適合你當(dāng)前的應(yīng)用，因?yàn)橹挥?mm的覆層厚度（需要小的盲區(qū)），考慮到未熔合可能不會(huì)完全平行于檢測(cè)面，雙晶直探頭就有更高的反射回波。厚度讀數(shù)誤差較大是正常的，因?yàn)殡p晶探頭的聲程和厚度本就不成正比，樓主可用3mm左右的試塊校準(zhǔn)下零位。
PS.覆層和基材的材質(zhì)分別是什么？聲阻抗差異大的材料可能不太適合振幅法檢測(cè)未熔合。當(dāng)覆層材料的聲阻抗與基材差異較大時(shí)，推薦采用相位法檢測(cè)。