關(guān)于斜探頭K值

“波束與被檢缺陷平面相垂直時(shí)，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出。”
剛做超聲的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)實(shí)際檢測(cè)和理論檢測(cè)還是有很大區(qū)別的。一開(kāi)始發(fā)現(xiàn)有很多探頭的實(shí)測(cè)k值和標(biāo)稱(chēng)值不一致。后來(lái)聽(tīng)同事說(shuō)，這很正常。廠家批量生產(chǎn)的探頭，不可能有很高的精確度，都會(huì)有一定量的偏差。所以在調(diào)機(jī)器的時(shí)候，每次都需要測(cè)試實(shí)際的k值再做曲線。后來(lái)做得多了，發(fā)現(xiàn)k值超過(guò)正-2度，照樣還可以用。但是標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，如果實(shí)測(cè)K值超過(guò)標(biāo)稱(chēng)K值正負(fù)兩度，就不能再用（不是標(biāo)準(zhǔn)原文，因?yàn)橥露颊f(shuō)K值變化超過(guò)兩度，一是磨探頭，一是丟棄，所以認(rèn)為是不能用）。一直對(duì)這一句話不太理解。一開(kāi)始認(rèn)為，如果超過(guò)正-2度?？赡懿ㄊc缺陷的角度會(huì)有較大的變化。導(dǎo)致反射效果急劇下降，造成漏檢。后來(lái)隨著對(duì)超聲波束的認(rèn)識(shí)加深。發(fā)現(xiàn)這一解釋不符合實(shí)際。超聲波束會(huì)有一定的上下擴(kuò)散角。假如某一缺陷與70度波束垂直，實(shí)測(cè)為68度的波束會(huì)有70的上擴(kuò)散角與缺陷垂直。因?yàn)槭菙U(kuò)散角檢測(cè)到，波高會(huì)低一些。但不會(huì)沒(méi)有反射。

后來(lái)查找資料，發(fā)現(xiàn)探頭角度也不是固定的（剛?cè)胄械牟锁B(niǎo)，以為就標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的幾個(gè)探頭）?，F(xiàn)在我們公司做的產(chǎn)品，都是用45、60、70度的探頭。其他行業(yè)有以K值標(biāo)稱(chēng)的1、1.5、2、2.5、3等?？吹奖容^早的資料有50、55度的探頭。分析最基本的知識(shí)，“波束與被檢缺陷平面相垂直時(shí)，反射效果最好，最有利于缺陷的檢出”。今天又看了11345-2013和4730-2005發(fā)現(xiàn)兩者表述還不太一樣，再看新版的47013-2015發(fā)現(xiàn)沒(méi)有說(shuō)正負(fù)兩度差值，是不是這個(gè)已經(jīng)不重要了？


那么以前標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不能超過(guò)正負(fù)兩度的意義是什么？（以下為個(gè)人猜想）



按標(biāo)準(zhǔn)，每次檢測(cè)前需要校儀器的靈敏度、K值、水平線性等。單說(shuō)K值，現(xiàn)在的數(shù)字機(jī)儀器可以生成DAC。但做好DAC后，K值是不變的了。由于磨損，實(shí)際K值改變后，對(duì)缺陷的定量、定位都會(huì)出現(xiàn)偏差（DAC曲線還是按以前的K生成的）。而這個(gè)偏差的極限就是正負(fù)兩度。比如，實(shí)測(cè)為70度的探頭，做好DAC用了一段時(shí)間后，實(shí)際角度變?yōu)?8度，這時(shí)定位、定量就會(huì)有較大影響，必需重新做DAC（但探頭還是可以用的）。


無(wú)損檢測(cè)新人，望前輩多多指點(diǎn)。

有個(gè)觀點(diǎn)需要更正一下 ，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定探頭角度大于2度不是不能用，是需要重新校準(zhǔn)，大于2度不代表缺陷不能檢出，主要是考慮定位、定量的誤差，會(huì)影響缺陷的判斷及評(píng)定

楓林晚 發(fā)表于 2016-8-4 00:28
有個(gè)觀點(diǎn)需要更正一下 ，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定探頭角度大于2度不是不能用，是需要重新校準(zhǔn)，大于2度不代表缺陷不能檢出 ...

嗯，同意您的觀點(diǎn)。有您的支持我更加確定。一開(kāi)始接觸標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，沒(méi)有理解得透徹。問(wèn)同事，他們也只是簡(jiǎn)單說(shuō)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，時(shí)間久了就不滿(mǎn)足于這么表面的解釋?zhuān)庞幸陨系乃伎歼^(guò)程。

這是美國(guó)D1.1規(guī)范的解釋?zhuān)?div id="tq6y2utm" class="quote">

規(guī)范對(duì)探頭使用（頻率、尺寸、角度）極為嚴(yán)格的要求是為了保持最佳狀況能使結(jié)果具可重復(fù)性。規(guī)范的意圖是用表6.6中規(guī)定的探頭角度和焊縫面來(lái)探查焊縫。而采用其他角度或焊縫面可能導(dǎo)致比規(guī)范規(guī)定的檢查更為苛刻。

斜波束探頭校準(zhǔn)    由于探頭的接觸表面磨損并引起定位精度降低，規(guī)范要求探頭最多工作8小時(shí)便應(yīng)校核其精度。此后每一段時(shí)間間隔內(nèi)探頭精度校核的責(zé)任由進(jìn)行此項(xiàng)工作的人員承擔(dān)。

按D1.1的要求，探頭角度超過(guò)偏差2度，就是不能夠用！我國(guó)過(guò)去的超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)探頭的要求，理解和執(zhí)行都不深入。

王緒軍 發(fā)表于 2016-8-5 11:31
這是美國(guó)D1.1規(guī)范的解釋?zhuān)?br />
按D1.1的要求，探頭角度超過(guò)偏差2度，就是不能夠用！我國(guó)過(guò)去的超聲波檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) ...

謝謝老師指點(diǎn)?，F(xiàn)在才算是弄明白這個(gè)問(wèn)題。

再看新版的47013-2015發(fā)現(xiàn)沒(méi)有說(shuō)正負(fù)兩度差值，是不是這個(gè)已經(jīng)不重要了？

你認(rèn)真看看NBT47013.3

王緒軍 發(fā)表于 2016-8-10 10:28
你認(rèn)真看看NBT47013.3

嗯，我又細(xì)看了一遍。在后面的規(guī)范性附錄里找到了。還加了一些要求

在附錄B里有對(duì)探頭的要求，可是我的一個(gè)單位領(lǐng)導(dǎo)要求探頭要磨出晶片才給換新的。K2的探頭校核后有時(shí)候都到了K1.5，想想真后怕。

JIAQIDONG 發(fā)表于 2016-12-27 08:11
在附錄B里有對(duì)探頭的要求，可是我的一個(gè)單位領(lǐng)導(dǎo)要求探頭要磨出晶片才給換新的。K2的探頭校核后有時(shí)候都到 ...

那磨損太嚴(yán)重了。我們一般測(cè)出K值偏差較大，就用砂布反向把耦合層磨平，角度偏差就減小，在偏差范圍內(nèi)就繼續(xù)用

xldw89sy 發(fā)表于 2016-12-27 21:48
那磨損太嚴(yán)重了。我們一般測(cè)出K值偏差較大，就用砂布反向把耦合層磨平，角度偏差就減小，在偏差范圍內(nèi)就 ...

兄弟哪個(gè)公司的