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先來看看常規(guī)的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會有一個界面回波，這個界面回波的寬度就決定了表面的盲區(qū)大小。雖然雙晶直探頭是采用一發(fā)一收且兩個晶片是呈一定角度傾斜放置的，但這并不能完全杜絕和延遲塊直探頭相似的界面回波，當增益調(diào)的很大你就可以看到了。所以，這里的表面泄露回波高度，我想指的就是界面回波高度。

糟老頭子 發(fā)表于 2013-12-25 14:12
先來看看常規(guī)的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會有一個界面 ...

正式因為雙晶是傾斜發(fā)射的，所以怎么會有這個回波我沒弄明白

來學習了，謝謝分享

關(guān)于這個泄露回波 其實質(zhì)是兩個晶片之間信號的互竄，也就是說發(fā)射晶片發(fā)出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部分聲波沒有經(jīng)過任何缺陷反射直接被接收晶片接受，形成回波。這個回波一般在熒光屏靠前端位置，在鋼介質(zhì)中的聲程位置一般在0-5mm之間，波幅較低，如果探頭制作工藝不好，此波波幅高會對檢測近表面缺陷帶來干擾。

楓林晚 發(fā)表于 2014-1-18 14:28
關(guān)于這個泄露回波 其實質(zhì)是兩個晶片之間信號的互竄，也就是說發(fā)射晶片發(fā)出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部 ...

這個聲波的位置取決于楔塊的縱波聲速以及楔塊的長度，而跟你檢測的材料沒有關(guān)系。

前來向各位學習了

初學者{:soso_e113:}

謝謝各位，學習了。{:soso_e179:}

不錯，學習了。