考考你（2）

給出第二批題目；同時公布“考考你(1)”題目的答案
第二批題目

1、標識譜的波長僅與陽極靶面的材料有關(guān)，而與管電壓和管電流無關(guān)。（ ○ ）
2、瑞利散射的概率大致與物質(zhì)原子序數(shù)Z 的平方成反比，并隨入射光子能量的
增大而急劇減小。（ × ）
3、使用直通道的γ射線機與使用“S”通道的γ射線機相比較，對輸源管彎曲半
徑的要求，直通道的要更大些。（ ○ ）
4、從膠片的特性曲線上可以定量的表示：感光度、寬容度、灰霧度、清晰度和
最大密度。（ × ）
5、所謂增感系數(shù)是指膠片一定、線質(zhì)一定、暗室處理條件一定時，得到同一黑度
的底片時不用增感屏的曝光量Eo 與使用增感屏?xí)r的曝光量E 之間的差值。（ × ）
6、與絲型像質(zhì)計相比較，平板孔型像質(zhì)計靈敏度受射線透照方向的影響更大。
（ ○ ）
7、顆粒性產(chǎn)生的原因主要是由膠片噪聲和量子噪聲所引起的。（ ○ ）
8、信噪比用于表征輸入或輸出的信息質(zhì)量，而梯噪比則是信息轉(zhuǎn)換放大系統(tǒng)的
特性指標。（ ○ ）
9、提高主因?qū)Ρ榷扔欣谔岣叩灼男旁氡取＃?○ ）
10、幾何修正系數(shù)σ值越小，意味著幾何條件對底片上小缺陷影像對比度的影響
越小。（ × ）
11、W′與缺陷寬度W 的比之值大小決定了缺陷是否有本影。當(dāng)W′/W>1 時，缺
陷本影消失。（ ○ ）
12、由于識別界限對比度△Dmin 隨黑度的增大而減小，所以應(yīng)盡量提高底片黑
度，從而提高小缺陷的檢出能力。（ × ）
13、所謂“最佳焦距”是指照相幾何不清晰度Ug 與固有不清晰度Ui 相等時的焦
距值。（ ○ ）
14、在工業(yè)射線照相應(yīng)用范圍內(nèi)，散射比隨射線能量的增大而變小，在相同射線
能量下，散射比隨鋼的厚度增大而增大。（ ○ ）
15、比釋動能只適用于X 射線或γ射線等不帶電粒子的輻射，但適用于各種物質(zhì)。
（ ○ ）