雙晶探頭

1.請問雙晶直探頭  、縱波雙晶斜探頭如何測探頭參數（聲速、零點、前沿等） ，縱波雙晶斜探頭還是使用一般的CSKIA、IIIA試塊么 ？雙晶直探頭測聲速用25mm大平底可以么 ？ 我做了一下，一點波都沒有！
    【 主要用于堆焊層檢測】


2.數字機設置時，選擇探頭形式，雙晶直探頭  、雙晶斜探頭都選擇雙晶探頭模式么，友聯機器PXUT350+不分直探頭和斜探頭，只有雙晶探頭一個選項！？
   第一次做堆焊層檢測，求教！！探頭：2.5P 5*10*2K2.75F3  斜
       2.5Φ14 FG3    直

@Asher 深度顯示不正確，是因為雙晶探頭采用的是一發一收的模式，聲波在楔塊中的時間需要校準，即探頭延時（零點），同時鋼板的聲速需要配合設置。
如果是一般的不銹鋼（304），聲速設置為5750，可以在階梯試塊的3mm（或者其他厚度）的臺階上，通過調節探頭零點，讓儀器的聲程顯示正確.然后再驗證，微調

Asher 發表于 2015-8-24 10:30
基材66mm 、132mm都有，有雙晶斜探頭2.5P 5*10*2K2.75F3就是您說的70°雙晶縱波斜探頭，就是不知道 ...

如果結合區域內的缺陷比較容易檢測，要根據標準，用相關對比試塊調試靈敏度。如果是焊層內的缺陷僅僅用雙晶直探頭就比較難檢測了。

Asher 發表于 2015-8-25 17:02
圖1為雙晶直探頭儀器設置
圖2為3mm試塊測試聲速
圖3為階梯試塊

抱歉，我不熟悉pXut-350+，我也不知道【零位校準】在這臺設備上怎么進行，你可以咨詢廠家。

1.雙晶直探頭的誤差很大，3mm深度顯示30mm，只要是3mm左右的底波都顯示深度30左右，很奇怪，還是測試錯誤？聲速5920，使用的3mm階梯試塊測試.
你需要的檢測范圍為0-3mm，儀器聲程10mm足矣，用階梯試塊2mm厚度與4mm厚度反復調試零偏和聲速直至深度顯示正確。雙晶探頭切記不能用一次波和二次波調校零點和聲速。

3.雙晶斜探頭用1A試塊，波太多，完全分不清，雙晶斜探頭也是聚焦的吧，聚焦深度3mm，使用1A試塊50、100的圓弧合理么?求教！！
2.5P5*10*2K2.75F3探頭，你需要的檢測的深度范圍同樣為0-3mm。CSK-IA試塊的50和100圓弧無法滿足要求。

糟老頭子 發表于 2015-8-24 21:11
1.雙晶直探頭的誤差很大，3mm深度顯示30mm，只要是3mm左右的底波都顯示深度30左右，很奇怪，還是測試錯誤 ...

圖1為雙晶直探頭儀器設置
圖2為3mm試塊測試聲速
圖3為階梯試塊
圖4為聲速測試波形（3mm處看不出回波？）
圖5 6為未測聲速 3mm大平底反射波，位置顯示在30mm左右深度？？
圖7為提起探頭，仍有反射波? 什么波？

ps:您說的 【校準零位】  如何校準？ pXut-350+沒找到此功能？？？求教，謝謝！

Asher 發表于 2015-8-24 16:30
1.雙晶直探頭的誤差很大，3mm深度顯示30mm，只要是3mm左右的底波都顯示深度30左右，很奇怪，還是測試錯誤 ...

1.雙晶直探頭的誤差很大，3mm深度顯示30mm，只要是3mm左右的底波都顯示深度30左右，很奇怪，還是測試錯誤？聲速5920，使用的3mm階梯試塊測試.
3mm顯示30mm，你零位沒校準吧？

2.基材14Cr1MoR           堆焊層304L
這兩種材料的聲阻抗應該是接近的，可以采用波幅法。

  
3.雙晶斜探頭用1A試塊，波太多，完全分不清，雙晶斜探頭也是聚焦的吧，聚焦深度3mm，使用1A試塊50、100的圓弧合理么?求教！！
可以用手蘸油拍打圓弧面，觀察A掃描，先跳動的就是一次圓弧面的縱波反射。是聚焦的，但是聚焦深度應該不是3mm，再說你只是用圓弧面的反射波校準距離的，和聚焦與否沒多大關系。

糟老頭子 發表于 2015-8-24 11:50
使用雙晶探頭需要在儀器中把脈沖反射法改為雙晶。雙晶縱波斜探頭的校準方法類似于橫波斜探頭，試塊使用CS ...

1.雙晶直探頭的誤差很大，3mm深度顯示30mm，只要是3mm左右的底波都顯示深度30左右，很奇怪，還是測試錯誤？聲速5920，使用的3mm階梯試塊測試.

2.基材14Cr1MoR           堆焊層304L

  
3.雙晶斜探頭用1A試塊，波太多，完全分不清，雙晶斜探頭也是聚焦的吧，聚焦深度3mm，使用1A試塊50、100的圓弧合理么?求教！！

Asher 發表于 2015-8-24 10:30
基材66mm 、132mm都有，有雙晶斜探頭2.5P 5*10*2K2.75F3就是您說的70°雙晶縱波斜探頭，就是不知道 ...

使用雙晶探頭需要在儀器中把脈沖反射法改為雙晶。雙晶縱波斜探頭的校準方法類似于橫波斜探頭，試塊使用CSK-1A就可以。但是由于前者在工件中還有橫波的成分，所以需要仔細的區分正確的縱波反射。雙晶直探頭比較適合你當前的應用，因為只有3mm的覆層厚度（需要小的盲區），考慮到未熔合可能不會完全平行于檢測面，雙晶直探頭就有更高的反射回波。厚度讀數誤差較大是正常的，因為雙晶探頭的聲程和厚度本就不成正比，樓主可用3mm左右的試塊校準下零位。
PS.覆層和基材的材質分別是什么？聲阻抗差異大的材料可能不太適合振幅法檢測未熔合。當覆層材料的聲阻抗與基材差異較大時，推薦采用相位法檢測。

dongxuliu123 發表于 2015-8-20 18:58
3mm的堆焊層，要求從堆焊層一側對其檢測，考慮到板很薄，一般的雙晶直探頭在聚焦在3mm時分辨率和信噪比都 ...

     基材66mm 、132mm都有，有雙晶斜探頭2.5P 5*10*2K2.75F3就是您說的70°雙晶縱波斜探頭，就是不知道此探頭怎么測聲速、前沿、實際K值？   用什么試塊？
       最近測試雙晶直探頭，貌似可以檢出試塊未結合區域，但是深度顯示錯誤，然而又確實有缺陷波，什么原因？