現(xiàn)場檢測問題

規(guī)格51×4，工藝卡要求焦距500mm，現(xiàn)場實際只有200mm，（現(xiàn)場不看，是不知道焦距不符合要求的）看了只是覺得不清楚，像質(zhì)計也能看清，不知這樣的底片算合格嗎？

你這種情況，采用AB級別是不滿足要求的，可以采用A級，焦距可滿足要求

可以按強老師試驗做，用裂紋對比試塊檢驗

沒有做過試驗，焦距的減小，會增大幾何不清晰度，理論上個人覺得影響對小缺陷的檢出率，不知可有做過這方面的試驗，給予實例謝謝

黎風(fēng) 發(fā)表于 2014-11-7 10:39
請問一下前輩們 如果焦距不夠 拍出來的底片黑度，像質(zhì)指數(shù)，清晰度都滿足要求呢？  還能算不合格底片嗎？兩 ...

工件在底片上影像放大對比度下降
容易造成小缺陷漏檢

請問一下前輩們 如果焦距不夠 拍出來的底片黑度，像質(zhì)指數(shù)，清晰度都滿足要求呢？  還能算不合格底片嗎？兩種底片又有什么區(qū)別？

有的連200空間也沒有，但拍拍總比拍個假的強，用不著太較真吧。

有的連200空間也沒有，但拍拍總比拍個假的強，用不著太較真吧。

理想情況是要求遠(yuǎn)點焦距的，但現(xiàn)實很多這樣的情況，每個公司都有這樣的底片，而且也是按正常底片評定的

很正常啊!
現(xiàn)場環(huán)境「逼」得你只能這麼做。
與業(yè)主協(xié)商吧!