求教關(guān)于JB4730焊縫測(cè)長方法中細(xì)節(jié)

4730.3中關(guān)于焊縫缺陷測(cè)長規(guī)定：對(duì)于單個(gè)高點(diǎn)的，處于II區(qū)的曲線，采取6db法檢測(cè)；對(duì)于多個(gè)高點(diǎn)，處于II區(qū)的缺陷，采取端點(diǎn)6db法，在下請(qǐng)教：高點(diǎn)的定義是什么？（多個(gè)高點(diǎn)：超過某db值波幅降低超過自身波高50%然后波幅又提高到某db值的？還是。。。。）這對(duì)于實(shí)操很關(guān)鍵，求教給位前輩給予個(gè)人的經(jīng)驗(yàn)和技巧

端點(diǎn)6dB法測(cè)得的缺陷夸大的更厲害一些，與實(shí)際解剖偏差更大一些。6dB法測(cè)得的缺陷相對(duì)夸大的程度的確小一些。

luolang1314 發(fā)表于 2013-4-26 06:57
你用的是什么尺寸的探頭晶片進(jìn)行檢測(cè)的？怎么會(huì)有6dB法測(cè)到的缺陷比實(shí)際短的說法呢？常規(guī)斜探頭晶片13*13 6 ...

對(duì) ，是我記錯(cuò)了，呵呵。不是還有個(gè)說法：缺陷的指示長度小于等于實(shí)際長度么？端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷長度比6db法測(cè)得的指示長度要小一些（P186），那么6DB測(cè)得的結(jié)果要比端點(diǎn)峰值法測(cè)得的更接近缺陷實(shí)際長度~是這么理解吧？

你用的是什么尺寸的探頭晶片進(jìn)行檢測(cè)的？怎么會(huì)有6dB法測(cè)到的缺陷比實(shí)際短的說法呢？常規(guī)斜探頭晶片13*13 6dB法測(cè)得的缺陷長度普遍偏長。6dB法測(cè)長受探頭晶片尺寸和工件中有效聲束寬度影響較大。沒有折中的公式通過計(jì)算得到接近實(shí)際的長度。但是可以通過實(shí)際解剖進(jìn)行少量的修正這個(gè)誤差。但注意，受缺陷處于不同深度，這個(gè)誤差是不同的。超聲及TOFD檢測(cè)，都會(huì)有夸大缺陷長度的傾向。但夸大的量有限，與探頭晶片尺寸有關(guān)。

luolang1314 發(fā)表于 2013-4-10 06:35
一般6dB法測(cè)得的缺陷，會(huì)比實(shí)際缺陷偏大一點(diǎn)點(diǎn)，在評(píng)級(jí)的時(shí)候，需注意這一點(diǎn)。 ...

端點(diǎn)峰值側(cè)長法比實(shí)際長，6db側(cè)長比實(shí)際短，有沒有一種折中的公式將這兩種方法進(jìn)行算術(shù)計(jì)算得到最接近實(shí)際的長度？呵呵

我的刀不快 發(fā)表于 2013-4-25 15:42
６db法測(cè)長比實(shí)際長，需要做反向補(bǔ)償么？若補(bǔ)償按什么標(biāo)準(zhǔn)。。實(shí)際運(yùn)用中不做反向補(bǔ)償?shù)陌桑?...

端點(diǎn)峰值側(cè)長法比實(shí)際長，6db側(cè)長比實(shí)際短，有沒有一種折中的公式將這兩種方法進(jìn)行算術(shù)計(jì)算得到最接近實(shí)際的長度？呵呵

６db法測(cè)長比實(shí)際長，需要做反向補(bǔ)償么？若補(bǔ)償按什么標(biāo)準(zhǔn)。。實(shí)際運(yùn)用中不做反向補(bǔ)償?shù)陌桑?/td>

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６db法測(cè)長不是比實(shí)際的短么？

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