數(shù)字成像檢測幾何不清晰度值

2膠片照相AB級  f≥10d·b2/3，假設(shè)：d=2mm，b：50mm。得f ≈ 272mm。計(jì)算：Ug=b× d/f=0.36mm

2膠片照相檢測工件厚度在50mm內(nèi)幾何不清晰度最大為0.36mm。補(bǔ)充：（國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)膠片照相Ug最大值沒直接規(guī)定，ASME標(biāo)準(zhǔn)膠片照相Ug最大值有限制規(guī)定T ≤ 50mm；Ug ≤ 0.51mm）

2討論：

2由于DR檢測工件與平板不能貼緊，幾何放大存在，是否可以在DR檢測工件厚度50mm內(nèi)幾何不清度最大限制在不超過膠片AB級的0.36mm內(nèi)？

假設(shè)DR檢測Ug ≤0.36，代入公式計(jì)算（f：最小值；環(huán)縫透照b：最大值）

2設(shè)1：DR檢測焦點(diǎn)d=1.0mm，檢測縱縫T=50mm，工件與探測器間隙P=50mm，一次透照長度L=150mm采用單壁透照。計(jì)算f、Ug、 Leff、B、M

2公式：選擇ISO 17636.2 B級f≥15d·b/（t）1/3; Ug =b×d/f; ΔL=b ·x/f; Leff=2(ΔL+x); B=Leff+20;M=F/ f =1+b/f

2計(jì)算結(jié)果： b=100mm、 f=408mm、Ug=0.25mm、ΔL=18mm、Leff=186mm、B=206mm、 M=1.25

2設(shè)2：DR檢測焦點(diǎn)d=1.0mm，檢測環(huán)縫D=800mm，T=50mm，工件與探測器間隙P=50mm，一次透照長度L=150mm采用源在內(nèi)單壁透照。計(jì)算f、Ug、 Leff、B、M

2增加公式： r=(D-2T)/2、X=L/2、 b1≈r- (r2-x2)1/2；b=b1+T+p

2計(jì)算結(jié)果 ：b=108mm、 f=440mm、Ug=0.25mm、ΔL=18mm、Leff=186mm、 B=206mm、M=1.25

2以上計(jì)算表明：選擇最小焦距f和最大b距離，焦點(diǎn)d和放大倍數(shù)M不變時(shí)，Ug值不超0.36mm。DR檢測技術(shù)中在不超過Ug總量情況下還需要盡量減小Ug。

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