利用X射線標(biāo)識(shí)譜進(jìn)行元素成分分析

       X射線管內(nèi)的靶材可以發(fā)射和靶材料有關(guān)的一系列特征譜——X射線標(biāo)識(shí)譜。
    不同的元素具有各自獨(dú)特的核外電子排布，因此就會(huì)有各自獨(dú)特的X射線標(biāo)識(shí)譜。
    如果把需要研究的材料當(dāng)做靶材，用高能電子去轟擊它就可以得到各種標(biāo)識(shí)譜。通過(guò)標(biāo)示這些譜線就可以分析出材料中含有的元素成分。而通過(guò)譜權(quán)重（即特征譜線的面積）的分析就可以大致得出材料中元素的原子配比。
    類似的原理，我們還可以對(duì)離子晶體中離子的化學(xué)價(jià)態(tài)進(jìn)行分析。通過(guò)一系列的分析，我們就可以得出新材料的元素組成和原子排布方式，從微觀上探測(cè)清楚材料的性質(zhì)。

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