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先來看看常規(guī)的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機(jī)玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會(huì)有一個(gè)界面回波，這個(gè)界面回波的寬度就決定了表面的盲區(qū)大小。雖然雙晶直探頭是采用一發(fā)一收且兩個(gè)晶片是呈一定角度傾斜放置的，但這并不能完全杜絕和延遲塊直探頭相似的界面回波，當(dāng)增益調(diào)的很大你就可以看到了。所以，這里的表面泄露回波高度，我想指的就是界面回波高度。

糟老頭子 發(fā)表于 2013-12-25 14:12
先來看看常規(guī)的延遲快直探頭（就是在接觸式直探頭前加裝有機(jī)玻璃塊）在延遲塊與工件接觸的地方會(huì)有一個(gè)界面 ...

正式因?yàn)殡p晶是傾斜發(fā)射的，所以怎么會(huì)有這個(gè)回波我沒弄明白

來學(xué)習(xí)了，謝謝分享

關(guān)于這個(gè)泄露回波 其實(shí)質(zhì)是兩個(gè)晶片之間信號(hào)的互竄，也就是說發(fā)射晶片發(fā)出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部分聲波沒有經(jīng)過任何缺陷反射直接被接收晶片接受，形成回波。這個(gè)回波一般在熒光屏靠前端位置，在鋼介質(zhì)中的聲程位置一般在0-5mm之間，波幅較低，如果探頭制作工藝不好，此波波幅高會(huì)對(duì)檢測(cè)近表面缺陷帶來干擾。

楓林晚 發(fā)表于 2014-1-18 14:28
關(guān)于這個(gè)泄露回波 其實(shí)質(zhì)是兩個(gè)晶片之間信號(hào)的互竄，也就是說發(fā)射晶片發(fā)出的聲波在靠近隔聲層方向有很小部 ...

這個(gè)聲波的位置取決于楔塊的縱波聲速以及楔塊的長(zhǎng)度，而跟你檢測(cè)的材料沒有關(guān)系。

前來向各位學(xué)習(xí)了

初學(xué)者{:soso_e113:}

謝謝各位，學(xué)習(xí)了。{:soso_e179:}

不錯(cuò)，學(xué)習(xí)了。