關(guān)于tofd底波的一個(gè)小問題

如圖，焊縫底波有寬有窄，有兩個(gè)分開的，對(duì)于這種情況應(yīng)該怎么理解？
用UT山形波方式理解是變形波合理不，或者說是兩條熔合線導(dǎo)致了兩個(gè)底波，還是說余高導(dǎo)致兩個(gè)底波？
另外，如果上邊這些理解有對(duì)的，那么這些波是否都應(yīng)該在正常底波（在母材或者試塊所調(diào)試的底波）之后，他們的位置都是什么樣的呢

再傳一副單通道的圖譜，在檢測時(shí)開始底波只有一條，后面就分為兩條。
剛那些想法還有一種就是焊縫錯(cuò)邊或者不等厚工件焊縫的檢測，是否也會(huì)出現(xiàn)這樣的情況
而且我們發(fā)現(xiàn)一般情況下再試塊上調(diào)節(jié)的底波都較窄，而在焊縫上就寬了許多，是否就是因?yàn)榫蛶讉€(gè)底波造成的

檢查一下探頭楔塊以及探頭楔塊在檢測時(shí)和工件接觸情況；檢測一下出現(xiàn)異常底波焊縫背面情況。
最好將所用的探頭及儀器介紹下。奧林巴斯采用充水耦合可能不會(huì)出現(xiàn)上述情況吧！

luolang1314 發(fā)表于 2014-8-6 14:24
檢查一下探頭楔塊以及探頭楔塊在檢測時(shí)和工件接觸情況；檢測一下出現(xiàn)異常底波焊縫背面情況。
最好將所用的 ...

       接觸有時(shí)是不良好的，我覺得雖然耦合好的時(shí)候它底波看起來是一個(gè)底波，但是它耦合不好的時(shí)候底波分為兩個(gè)波這種情況，說明耦合好不好分開的兩波都是同時(shí)存在的。我們遇到很多這樣的情況，應(yīng)該不能說每次都是耦合不好的。背面有時(shí)是余高較高，有時(shí)還有錯(cuò)邊，也有可能我們拉圖的時(shí)候偏置了。       不知道這種圖像算不算缺陷，這些結(jié)構(gòu)與聲波走的路是否有關(guān)系。我們接觸TOFD不到半年，現(xiàn)在注意到這個(gè)問題，我們也不好去隨意返修，想了解了解看這個(gè)是不是缺陷，對(duì)這些底波前輩有什么好的理解，學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)
       附件這幅圖是我們前面做出來的一條距離底面3~5mm的缺陷，在常規(guī)超聲與磁粉、射線三種檢測方法的盲區(qū)。實(shí)際挖出來后分析是縱縫回圓時(shí)造成的裂紋，這個(gè)缺陷看似與那種雙底波有區(qū)別的。

忘記說了，我們用的是以色列的設(shè)備。
一通道70度，二通道60度，探頭都是5M，直徑6mm，pcs分別為92、175，水耦合。

個(gè)人覺得你上傳的圖4不宜作為合格圖譜保存的。拉動(dòng)掃查架的時(shí)候可能拉偏了，或者探頭楔塊接觸不好。這個(gè)時(shí)候，重新再拉一遍比較好！看過很多以色列儀器檢測的圖譜，還沒有發(fā)現(xiàn)雙底波的情況。

luolang1314 發(fā)表于 2014-8-6 16:41
個(gè)人覺得你上傳的圖4不宜作為合格圖譜保存的。拉動(dòng)掃查架的時(shí)候可能拉偏了，或者探頭楔塊接觸不好。這個(gè)時(shí) ...

這點(diǎn)我們也不好說，我們也只是自己拉圖，沒有去看過別的圖譜，有可能是拉偏了，探頭腳也可能是有點(diǎn)問題的。后面再遇到這樣的情況，我們?nèi)ヲ?yàn)證下是不是拉偏了或者是pcs變化了。
那前輩還有幾個(gè)疑問，
有余高時(shí)底波后面會(huì)不會(huì)有余高處的底波
錯(cuò)邊時(shí)會(huì)不會(huì)有兩個(gè)底波
正常探頭中心關(guān)于焊縫對(duì)稱和不對(duì)稱會(huì)不會(huì)分別是一個(gè)和兩個(gè)底波出現(xiàn)
這些情況會(huì)不會(huì)就是造成這些圖像的原因呢

有余高時(shí)，底波不會(huì)出現(xiàn)余高處的底波。你可以自己做工藝對(duì)比，分別是有余高和余高磨平兩種情況，底波形態(tài)及位置做對(duì)比。
一般標(biāo)準(zhǔn)允許的錯(cuò)邊時(shí)好像也沒有兩個(gè)底波。
中心對(duì)稱非平行掃查或偏置非平行掃查也不會(huì)出現(xiàn)一個(gè)和兩個(gè)底波。
我只在一種情況下觀察到兩個(gè)底波情況，就是在焊縫里口返修挖補(bǔ)，未補(bǔ)焊時(shí)，從外表面檢測，由于厚度出現(xiàn)變化，此時(shí)在過渡段出現(xiàn)底波位置不一致，且過渡段TOFD圖譜有R弧逐漸過渡。

今天有人帶奧林巴斯的TOFD儀器，來我們公司拉圖，也有這種情況，他認(rèn)為是由于余高的存在，所以就在母材和余高形成兩個(gè)底波。我們做一個(gè)封頭，也有這種情況，從表面看有明顯的錯(cuò)邊的。

我同意樓主的猜測：
余高增加、錯(cuò)邊和偏置非平行掃查均會(huì)增大底波的持續(xù)時(shí)間，畫個(gè)圖就能看出。