關(guān)于TOFD檢測中 A掃描波幅的作用

關(guān)于TOFD檢測中 A掃描波幅的作用是什么? TOFD檢測中，A掃描的波幅有什么作用呢，在各種資料里都沒找到，個人感覺的也不是很準確，請專家來解釋一下啊。。

波幅高 b掃描的顏色就黑

波幅的作用，一確定靈敏度。雖然TOFD擺脫了傳統(tǒng)A掃完全依靠波幅給缺陷定性定量的不足，但是波幅仍是缺陷定量、定性的一個重要參量。二，波幅高低對應(yīng)灰度圖當中顏色深淺，同時形成相位關(guān)系。根據(jù)D掃缺陷灰度圖，回放A掃波幅信息，有助于缺陷的進一步定性，定量。三，波幅也是整個檢測系統(tǒng)包括探頭的發(fā)現(xiàn)缺陷能力的一個重要指標，與儀器的信號觸發(fā)、分辨率、濾波及檢波頻率有關(guān)。

如今TOFD的Ａ掃信息，如果僅僅認為是為Ｄ掃服務(wù)的，那么會降低Ａ掃的價值。目前，對Ａ掃的分析，大部分停留在時域分析上，一些頻域的分析基本上沒有。目前出現(xiàn)的Ｆ－ＳＣａｎ特征掃描可能會更關(guān)注時域波形信號之外的信息。不管是ＴＯＦＤ，還是ＰＡＵＴ，強調(diào)較多的都是基于Ａ掃之上的Ｄ掃（Ｓ掃），這是不夠的。

happynation 發(fā)表于 2012-6-23 20:01
波幅高 b掃描的顏色就黑

呵呵  是我說錯了   我把PAUT和TOFD的B掃描弄混了
不過  根據(jù)我的理解 TOFD A掃描就是和顏色深度有關(guān)系而已  假如 你覺得還有什么其他關(guān)系  你說出來聽聽  
我看看你說的對不對

luolang1314 發(fā)表于 2012-6-23 21:01
波幅的作用，一確定靈敏度。雖然TOFD擺脫了傳統(tǒng)A掃完全依靠波幅給缺陷定性定量的不足，但是波幅仍是缺陷定 ...

你說A掃描可以幫助定性   這個肯定是沒錯的

不過定量就值得商榷了

因為TOFD的定量是基于端角衍射原理   測量的是兩個端角衍射波之間的距離  而不是根據(jù)最高波 用6dB或者20dB法  所以 我認為A掃描的波高和定量沒什么關(guān)系  

我是這么理解的啦   ：）

支持HAPPYNATION!
TOFD與PAUT的本質(zhì)區(qū)別一是以回波波幅進行定量，一是以衍射波進行顯示的測長和測高并進行評定！TOFD的靈敏度與常規(guī)超聲和PAUT的本質(zhì)區(qū)別是不同的檢測技術(shù)！

TOFD在宣稱當中的確說到，端角衍射的原理不是像傳統(tǒng)6dB法或20dB法測長、測深。我說的定量不是指這個。就拿橫通孔為例，TOFD檢測當中，既有反射和衍射波打到橫通孔上，同一深度，不同孔徑的橫通孔得到的反射和衍射信號疊加后，也會在波幅上反應(yīng)出來。具體的依賴關(guān)系，可能沒有人做實驗，但是孔徑大的對應(yīng)的A掃波幅較高，一般還是成立的（在實際當中，由于缺陷的性質(zhì)、指向等，可能不遵循此規(guī)律）。不然，TOFD試塊就不會采用逐漸增大的孔徑來進行深度補償了；同一孔徑，不同深度，類似于傳統(tǒng)A掃定量也是有一定對應(yīng)關(guān)系的，（較傳統(tǒng)A掃的對應(yīng)規(guī)律可能復(fù)雜一些）
一般來說，缺陷波幅較高，缺陷較大、較嚴重，在D掃上就是顏色較深，對比較強烈的，缺陷一般較大、
TOFD評定當中，條形缺陷定量是根據(jù)缺陷的自身高度以及缺陷長度（相對一定的板厚）來評定的，這個看起來對波幅是沒有關(guān)系的。
而傳統(tǒng)A掃當中，定量是孔徑大小及缺陷長度（依據(jù)橫通孔（fai 1*6，fai2*20等）聲壓反射定律）來間接反應(yīng)的。兩者不是同一個概念。
TOFD評定當中對于氣孔，是依據(jù)數(shù)量多少定量，卻沒有其大小的規(guī)定，對氣孔比較寬大，這一點有點不合理。而ASME RT檢測當中對于深孔是不允許的，只能說每種檢測手段都是有其優(yōu)缺點的。

TOFD定量實際涉及到基準靈敏度的問題。也即是類似于傳統(tǒng)A掃的fai 3的缺陷是不允許的。也即TOFD有一個門檻低于多大的缺陷（當量）是可以i不算的。在實際檢測當中，普通A掃（fai 1×6）評定線（測長線）左右的缺陷，在TOFD檢測當中會檢測出來。當然，具體缺陷評定，和缺陷深度、長度有關(guān)。TOFD定量更像是一個相對的概念。

學(xué)習(xí)了！看看還有哪位高手來說說！