尋求X射線數(shù)字成像檢測(cè)（DR)方法的標(biāo)準(zhǔn)？

尋求X射線數(shù)字成像檢測(cè)（DR)方法的標(biāo)準(zhǔn)？國(guó)內(nèi)、國(guó)外均可，需要標(biāo)準(zhǔn)號(hào)及標(biāo)準(zhǔn)文，有電子檔的更好！！謝謝

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              小口徑管子對(duì)接焊縫X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)規(guī)程
1  范圍
    本規(guī)程適用于鋼制管子外徑D≤100mm，管子壁厚2mm≦t≦13mm的小口徑管對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)。
2 規(guī)范參考標(biāo)準(zhǔn)
2.1   GB/TI19293-2003《對(duì)接焊縫X射線成像檢測(cè)法》
2.2JB4730.2-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)
3.3GB18871電離輻射防護(hù)與輻射源安全標(biāo)準(zhǔn)
3  術(shù)語和定義   下列術(shù)語和定義適用本標(biāo)準(zhǔn)
3.1圖像處理（利用數(shù)字成像處理技術(shù)，將圖像對(duì)比度和清晰度進(jìn)行增強(qiáng)，以獲得良好的圖像質(zhì)量和視覺效果）
3.2灰度（圖像中黑白程度的分級(jí)值）
3.3圖像對(duì)比度（檢測(cè)圖像中細(xì)節(jié)影像與背景影像的灰度差）
3.4系統(tǒng)分辨率（系統(tǒng)分辨率是指成像系統(tǒng)顯示細(xì)節(jié)的能力，用每毫米線對(duì)數(shù)1.P/mm）表示
3.5像數(shù)（像數(shù)是構(gòu)成圖像的最小單元）
3.6原始圖像數(shù)據(jù)（是指初始采集而未作處理的圖像數(shù)據(jù)）
4   人員的要求
4.1 從事本規(guī)程的檢驗(yàn)人員，應(yīng)根據(jù)相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)通過考核，取得射線中級(jí)或高級(jí)資格，并需通過本檢驗(yàn)方法的技術(shù)培訓(xùn)后，方可進(jìn)行相應(yīng)的工作。
4.2圖像評(píng)定人員應(yīng)能分辨距離為400mm遠(yuǎn)的一組高為0.5的印刷字母。評(píng)定人員的視力每年檢查一次。
4.3圖像評(píng)定人員在評(píng)定前應(yīng)進(jìn)行圖像灰度分辨率的相應(yīng)訓(xùn)練，要求在36個(gè)灰度塊中能分辨出4個(gè)連續(xù)變化的灰度塊。
5 設(shè)備
5.1構(gòu)成：由以下裝置：X射線機(jī)、X射線接受轉(zhuǎn)換裝置、數(shù)字圖像處理單元、圖像顯示單元、圖像存儲(chǔ)單元。
5.2X射線機(jī)—射線源采用320恒電位X光機(jī)
       焦點(diǎn)尺寸：3.0*5.5mm(大焦點(diǎn))
       (EN12534)1.5*4.0mm(小焦點(diǎn))
5.3X射線機(jī)接受轉(zhuǎn)換裝置—X射線接受轉(zhuǎn)換裝置是硅晶化合物為接收單元的掃描式X射線接受器。
     型號(hào)：SEZW2-160     規(guī)格：160mm
     圖像點(diǎn)數(shù)：1856(接受器分辨率設(shè)置為0.083mm)   920(接受器分辨率設(shè)置為0.167mm)
5.4數(shù)字圖像處理單元——利用圖像處理軟件對(duì)采集的原始圖像進(jìn)行降噪、對(duì)比度增強(qiáng)、邊緣增強(qiáng)等處理并且具有圖像幾何尺寸測(cè)量功能。
5.5圖像顯示單元——17英寸計(jì)算機(jī)顯示器，分辨率1024×768，刷新頻率85hz以上。
5.6圖像存儲(chǔ)單元——圖像編號(hào)后作為文件臨時(shí)存儲(chǔ)在硬盤上，并刻錄在光盤上以供今后查閱。
5.7根據(jù)被檢測(cè)焊縫的材質(zhì)和厚度范圍選擇X射線機(jī)的能量范圍。但是不宜用高能量的機(jī)器透照相對(duì)較薄的工件。
5.8系統(tǒng)分辨率
5.8.1X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)分辨率不小于3.0L/mm。可用標(biāo)準(zhǔn)的分辨力測(cè)試卡測(cè)試（測(cè)試方法見附錄A）
5.8.2使用階梯試塊評(píng)價(jià)對(duì)比靈敏度，試塊必須與被檢測(cè)工件的材質(zhì)相同，其階梯顯示被檢材料最厚和最薄面的100％、99％、98％、97％(測(cè)試方法見附錄B)。要求薄面對(duì)比靈敏度不低于3％，厚面對(duì)比度不低于2％。
6  設(shè)備性能測(cè)試規(guī)定
    設(shè)備系統(tǒng)分辨力、對(duì)比靈敏度的校驗(yàn)每三個(gè)月測(cè)試一次。系統(tǒng)每次修理或調(diào)整、更換有關(guān)零部件或軟件都需要重新校驗(yàn)系統(tǒng)分辨力和對(duì)比靈敏度。系統(tǒng)性能的定期測(cè)試記錄應(yīng)有保存。對(duì)比靈敏度見附錄B，對(duì)比試塊見附錄C。
7  檢測(cè)工裝     
    檢測(cè)連續(xù)焊縫，當(dāng)需要記錄多個(gè)位置的透照?qǐng)D像時(shí)，焊縫搭接長(zhǎng)度不低于10mm。
8 相關(guān)要求
   工作室環(huán)境溫度范圍：(15～25)度，X射線室環(huán)境溫度(5～15)度，相對(duì)濕度≦80％。應(yīng)配備空調(diào)系統(tǒng)調(diào)整。
9 圖像處理方法
9.1成像系統(tǒng)至少應(yīng)進(jìn)行以下方法處理：
(a)連續(xù)幀疊加 (b)勾邊處理(c)對(duì)比度增強(qiáng)。任何處理方法都不得改變圖像的原始數(shù)據(jù)。
9.2圖像處理可以在整個(gè)屏幕上進(jìn)行，也可以在屏幕局部部位的焊縫區(qū)域進(jìn)行。
10圖像質(zhì)量
10.1測(cè)定方法 —采用金屬絲像質(zhì)計(jì)來測(cè)定圖像質(zhì)量。
10.2在每班開始工作時(shí)應(yīng)校驗(yàn)探傷靈敏度，當(dāng)透照參數(shù)(如電壓、焦距、降噪時(shí)間等)發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新校驗(yàn)靈敏度；在相同條件下，連續(xù)開機(jī)4小時(shí)應(yīng)校驗(yàn)靈敏度。
10.3校驗(yàn)靈敏度的圖像應(yīng)和該批次焊口圖像一起保存。
10.4使用JB4730.2規(guī)定的專用線型像質(zhì)計(jì)評(píng)價(jià)探傷靈敏度。像質(zhì)計(jì)應(yīng)橫跨放置。要求在鄰近焊縫母材金屬區(qū)能識(shí)別的最細(xì)鋼絲直徑符合表1的要求。在顯示器上觀察像質(zhì)計(jì)的動(dòng)態(tài)和靜態(tài)影響時(shí)，專用線型像質(zhì)計(jì)至少能識(shí)別兩根金屬絲，且長(zhǎng)度不小于10mm。一般按AB級(jí)要求選擇像質(zhì)計(jì)。
10.5幾何條件的要求
      所選用射線源至工件表面的距離f宜滿足以下要求：f≧10d?b2/3
             d—有效焦點(diǎn)尺寸；
             b—工件表面至成像接收器的距離。
10.6表面狀態(tài)的要求—焊縫表面應(yīng)符合目視檢驗(yàn)有關(guān)要求，管子焊縫表面及附近應(yīng)無脫層氧化皮及油漆等污物，焊縫應(yīng)向母材平滑過度。焊縫上的不規(guī)則狀態(tài)，不應(yīng)掩蓋缺陷影像，否則應(yīng)作休整。
11透照方式的要求和選擇
根據(jù)客戶要求和工藝，選擇相應(yīng)的透照方式。
11.1透照采用雙壁雙影透照法。射線束中心一般與被檢測(cè)焊縫平面傾斜一定角度，以便把射線源側(cè)焊縫和成像接收器側(cè)焊縫的影像在顯示器上分開。
11.2采用“雙壁雙影展開式”透照法屬于動(dòng)態(tài)成像。當(dāng)管子旋轉(zhuǎn)時(shí)，接收器連續(xù)不斷采集中心位置數(shù)據(jù)，從而獲得小口徑管對(duì)接焊縫的展開圖。每個(gè)焊口應(yīng)旋轉(zhuǎn)大于360度，每個(gè)管口的成像長(zhǎng)度必須大于焊縫展開長(zhǎng)度，首尾保證有10％以上的搭接長(zhǎng)度。
11.3采用“雙壁雙影橢圓成像”透照法屬于靜態(tài)成像。當(dāng)T/D0≧0.12時(shí)，相隔120°或60°透照3次。
11.4X射線能量的選擇
X射線能量的選擇應(yīng)符合JB/4730.2的規(guī)定。不同的透照厚度允許采用的最高X射線管電壓不超過圖1的規(guī)定。
12成像技術(shù)
12.1幾何放大
根據(jù)X射線機(jī)頭、被檢焊縫和射線接收轉(zhuǎn)換裝置三者之間相互位置的關(guān)系，幾何放大倍數(shù)M為：
           M＝I+L2/L1………………(1)
           式中：L1—X射線機(jī)焦點(diǎn)至被檢測(cè)焊縫表面的距離；
            L2—被檢測(cè)焊縫表面至射線接收轉(zhuǎn)換裝置表面的距離。
12.2放大倍數(shù)M的選取
最佳放大倍數(shù)為：Mopt＝I＋(U1/d)2/3……(2)
式中：U1—系統(tǒng)固有不清晰度；
              d—焦點(diǎn)尺寸。
13圖像的觀察
13.1圖像觀察分為動(dòng)態(tài)和靜態(tài)觀察。
13.2應(yīng)在光線柔和的環(huán)境下觀察檢驗(yàn)圖像，圖像顯示器屏幕應(yīng)清潔、無斑痕、無明顯的光線反射。觀察距離約為顯示屏幕高度的3～5倍。
13.3圖像可以正像和負(fù)像顯示。
14圖像尺寸測(cè)量
14.1標(biāo)定方法    將經(jīng)過計(jì)量的或已知精確尺寸的試體緊貼被檢測(cè)焊縫的一側(cè)與焊縫同時(shí)成像。用計(jì)算機(jī)提供的測(cè)量方法多次測(cè)量圖像上試體放大或縮小比例，當(dāng)測(cè)量值穩(wěn)定于某一定值時(shí)，表示圖像評(píng)定尺的標(biāo)定結(jié)果已經(jīng)準(zhǔn)確。
14.2評(píng)定前的標(biāo)定  每次評(píng)定前，應(yīng)作一次標(biāo)定。連續(xù)透照檢驗(yàn)時(shí)，在透照工藝一致的條件下，每一條同類型的需評(píng)定的焊縫檢驗(yàn)圖像中，應(yīng)至少有一幅圖像是具體有校驗(yàn)圖像標(biāo)定尺寸。
14.3測(cè)量誤差應(yīng)小于0.3mm。
15驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)   按JB4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)


15.1  合格焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、深孔和燒穿等缺陷。
15.2  圓形缺陷評(píng)定
15.2.1  在10×10mm圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評(píng)定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評(píng)定區(qū)內(nèi)。將評(píng)定區(qū)內(nèi)的缺陷按表2的規(guī)定換算為點(diǎn)數(shù)，圓形缺陷的點(diǎn)數(shù)在圓形缺陷評(píng)定區(qū)大于表3的規(guī)定或單個(gè)圓形缺陷長(zhǎng)徑大于T/2時(shí)不合格。
缺陷長(zhǎng)徑,mm        ≤1        ＞1～2        ＞2～3        ＞3～4        ＞4～6        ＞6～8        ＞8
缺陷點(diǎn)數(shù)        1        2        3        6        10        15        25
表2   缺陷點(diǎn)數(shù)換算表

                                  表3  合格焊縫允許的圓形缺陷最多點(diǎn)數(shù)
評(píng)定區(qū)(mm)        10×10
母材公稱厚度T(mm)        ≤10        ＞10～15        ＞15～25
允許的缺陷點(diǎn)數(shù)        3        6        9
      
15.2.2  當(dāng)缺陷的長(zhǎng)徑尺寸≤0.5mm時(shí)，評(píng)定時(shí)不計(jì)該缺陷的點(diǎn)數(shù)。管子母材公稱厚度T ≤5mm的Ⅱ級(jí)對(duì)接焊接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè)，超過時(shí)對(duì)接焊接接頭不合格。
15.3  條形缺陷的評(píng)定按表4的規(guī)定
單個(gè)條形缺陷最大長(zhǎng)度        一組條形缺陷累計(jì)最大長(zhǎng)度
T/3（最小可為4）        在長(zhǎng)度為12T的任意選定條形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)，相鄰缺陷間距不超過6L的任一組條形缺陷的累計(jì)長(zhǎng)度應(yīng)不超過T,但最小可為4
注1：L為該組條形缺陷中最長(zhǎng)缺陷本身的長(zhǎng)度；T為母材公稱厚度，當(dāng)母材公稱厚度不同時(shí)取較薄板的厚度值。
注2：條形缺陷評(píng)定區(qū)是指與焊縫方向平行的、具有一定寬度的矩形區(qū)， T≤25mm，寬度為 4mm；25 mm＜T≤ 100mm，寬度為6mm；T＞100mm，寬度為8mm。
注3：當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上條形缺陷處于同一直線上、且相鄰缺陷的間距小于或等于較短缺陷
長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)作為1個(gè)缺陷處理，且間距也應(yīng)計(jì)入缺陷的長(zhǎng)度之中。
表4   合格對(duì)接接頭允許的條形缺陷長(zhǎng)度     mm
        15.4  根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊的評(píng)定
        15.4.1  管外徑Do≤100mm的小徑管的根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊深度可采用附錄H規(guī)定的小徑管專用對(duì)比試塊 (ⅠA或ⅠB型) 進(jìn)行測(cè)定。測(cè)定時(shí)，對(duì)比試塊應(yīng)置于源側(cè)表面、靠近被測(cè)根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位。
15.4.2  合格焊縫根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊缺陷不大于表5的規(guī)定。
根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊最大度mm        根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊最大總長(zhǎng)度與焊縫總長(zhǎng)度的比
與壁厚的比        最大值       
≤15％        ≤1.5        ≤30％
注：對(duì)斷續(xù)根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊,以根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊本身的長(zhǎng)度累加計(jì)算總長(zhǎng)度。
表5    外徑Do≤100mm時(shí)根部?jī)?nèi)凹和根部咬邊
      15.5  綜合評(píng)級(jí)
在條形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)。對(duì)各類缺陷按CG1502分別評(píng)定級(jí)別，取質(zhì)量級(jí)別最低的級(jí)別作為綜合評(píng)級(jí)的級(jí)別，超過Ⅱ級(jí)為不合格；當(dāng)各類缺陷的級(jí)別相同為Ⅱ級(jí)時(shí)，綜合評(píng)級(jí)判為不合格。



16射線防護(hù)   射線防護(hù)應(yīng)符合GB18871—2002的有關(guān)規(guī)定。
17圖像存儲(chǔ)及檢驗(yàn)報(bào)告
17.1檢驗(yàn)圖像應(yīng)及時(shí)刻錄在光盤(CD_R)上，光盤背面應(yīng)寫上探傷報(bào)告號(hào)。光盤保存在防磁、防潮、防塵、防擠壓的環(huán)境中。
17.2相應(yīng)的原始記錄及檢驗(yàn)報(bào)告、光盤應(yīng)至少保存七年以上。
17.3檢驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容應(yīng)包括：產(chǎn)品的名稱、編號(hào)、規(guī)格、材質(zhì)；檢驗(yàn)設(shè)備的型號(hào)、焦點(diǎn)尺寸、及檢驗(yàn)參數(shù)、檢驗(yàn)部位、檢驗(yàn)比例、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)收等級(jí)、評(píng)定等級(jí)、返修情況、檢驗(yàn)等。
17.4驗(yàn)收?qǐng)?bào)告應(yīng)由II級(jí)或II級(jí)以上人員簽字。
18關(guān)于空間分辨率和靜態(tài)分辨率的測(cè)試
18.1概述  空間分辨率是可以檢測(cè)到數(shù)字化圖像的最小單元尺寸，以實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)識(shí)別的毫米線對(duì)數(shù)來表征。
18.2線對(duì)試塊  線對(duì)可選用Nr91237(typ82)或Nr38910(typ56)等。每毫米寬度內(nèi)所排列的線對(duì)數(shù)稱為毫米線對(duì)數(shù)，用LP/mm表示。
18.3空間分辨率與圖像不清晰度Uf的關(guān)系是：
              Uf＝1/線對(duì)數(shù)
18.4測(cè)試方法   空間分辨率的測(cè)量在靜態(tài)下進(jìn)行。將圖像測(cè)試卡放在接收器中心區(qū)域，線對(duì)柵條與水平位置垂直，按如下工藝條件進(jìn)行透照，并在顯示屏上成像：(a)焦距600mm (b)管電壓50kv   (c)管電流2ma
18.5X光機(jī)大、小焦點(diǎn)分別測(cè)量空間分辨率。
18.6在顯示屏上觀察測(cè)試卡影像，觀察到兩根分離的線條剛好重合一根線條時(shí)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為系統(tǒng)的空間分辨率。
18.7靜態(tài)分辨率可以用線型像質(zhì)計(jì)進(jìn)行測(cè)試，達(dá)到相應(yīng)要求，滿足檢測(cè)。
19實(shí)時(shí)成像檢測(cè)的工藝標(biāo)定
實(shí)時(shí)成像檢測(cè)工藝的制作關(guān)系到圖像質(zhì)量，必須按系統(tǒng)軟件的步驟精確計(jì)算。步驟如下：
(a)在系統(tǒng)軟件菜單里點(diǎn)擊工藝。
(b)選擇標(biāo)定工藝文件，系統(tǒng)根據(jù)標(biāo)定的工藝文件創(chuàng)建時(shí)的積分時(shí)間、和分辨率自動(dòng)填寫“分辨率”、“運(yùn)行速度”、“積分時(shí)間”，其中積分時(shí)間可以根據(jù)實(shí)際情況改寫，“運(yùn)行速度”自動(dòng)根據(jù)積分時(shí)間計(jì)算后填寫。
(c)計(jì)算次數(shù)，為達(dá)到精確，選用5次。
(d)分辨率的選擇，通常選擇0.083mm和0.167mm
(e)降噪時(shí)間30ms
(d)經(jīng)過5次的精確計(jì)算，確定了電壓kv和電流ma，滿足了工藝要求即可以標(biāo)定工藝名稱。
20圖像評(píng)定
圖像的評(píng)定分為兩部分：系統(tǒng)軟件評(píng)定和手工評(píng)定相結(jié)合，并做好評(píng)定記錄，確保真實(shí)可靠。評(píng)定滿足JB4730—2005。
21實(shí)時(shí)成像檢測(cè)設(shè)備屬于精密儀器，需做好日常的保養(yǎng)與維護(hù)。其中訓(xùn)機(jī)是必須嚴(yán)格執(zhí)行，確保檢測(cè)過程的穩(wěn)定性。訓(xùn)機(jī)有以下幾種方式：
(a)自動(dòng)訓(xùn)機(jī)   軟件狀態(tài)下點(diǎn)擊訓(xùn)機(jī)列表自動(dòng)訓(xùn)機(jī)。
(b)手動(dòng)訓(xùn)機(jī)   1停X光機(jī)超過8小時(shí)且小于48小時(shí)訓(xùn)機(jī)(大焦點(diǎn))2起始電壓50kv～120kv，每300秒增加10kv，電流2ma。120kv~使用電壓＋10kv，每300秒增加5kv，電流2ma。
(c)注意事項(xiàng)！ 1訓(xùn)機(jī)過程中高壓不可以停2訓(xùn)機(jī)期間如果出現(xiàn)錯(cuò)誤，按錯(cuò)誤信息查找原因，在確保解決錯(cuò)誤之后，方可以開始訓(xùn)機(jī)。
22工業(yè)電視實(shí)時(shí)成像檢測(cè)操作過程及流程圖流程見附錄D
a準(zhǔn)備：工作人員佩戴個(gè)人劑量?jī)x。系統(tǒng)安全檢查，接通電源。
b開啟計(jì)算機(jī)，顯示器、監(jiān)視器。調(diào)整焦距及調(diào)試控制面板工作按鈕。
c射線訓(xùn)機(jī)(參照訓(xùn)機(jī)規(guī)程)
d點(diǎn)擊計(jì)算機(jī)桌面上成像檢測(cè)軟件和射線電壓電流應(yīng)用軟件。評(píng)片和掃描程序以及看圖在相應(yīng)的菜單中打開。選擇合適的電壓和電流。
e選擇工藝文件。如需要新建工藝文件，送入被檢測(cè)工件，在被檢測(cè)工件表面光潔處(母材)，此操作過程中嚴(yán)格要求選擇合適的電壓電流參數(shù)，控制好分辨率和靈敏度。
f開始工作，掃描成像檢測(cè)，退管。
g評(píng)片，記錄，報(bào)告。圖像儲(chǔ)存及刻錄。
h評(píng)片如遇不合格，切割重新焊接檢驗(yàn)至合格。
i每日工作結(jié)束后，在菜單中打開組件選擇，查找工作令號(hào)，進(jìn)行復(fù)評(píng)。
j退出掃描軟件，退出電壓電流應(yīng)用軟件，機(jī)械工裝電源。關(guān)閉顯示器、監(jiān)視器。
k停機(jī)5min以上關(guān)閉射線機(jī)電源，關(guān)閉空調(diào)。
附錄ABCD


附  錄 A   
（規(guī)范性附錄）
空間分辨率的測(cè)試

A.1 概述
空間分辨率是可檢測(cè)到的數(shù)字化圖像的最小單元尺寸，以實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)識(shí)別的毫米線
對(duì)數(shù)來表征。
A.2 線對(duì)試塊
線對(duì)試塊可選用Nr91237(typ82) 或 Nr38910(typ56)等。
A.2.1 每毫米寬度內(nèi)所排列的線對(duì)數(shù)稱為毫米線對(duì)數(shù)，用LP／mm表示。
A.2.2 空間分辨率與圖像不清晰度Uf的關(guān)系是：
Uf＝1／線對(duì)數(shù)
A.3 測(cè)試方法
A.3.1 空間分辨率的測(cè)量在靜態(tài)下進(jìn)行。
A.3.2 將圖像測(cè)試卡放在接收器中心區(qū)域,線對(duì)柵條與水平位置垂直,按如下工藝條件進(jìn)行透照,并在顯示屏上成像：
a) 焦距600mm；
b) 管電壓50kV;
c) 管電流2mA；
A.3.3  X光機(jī)大、小焦點(diǎn)分別測(cè)量空間分辨率。
A.3.4 在顯示屏上觀察測(cè)試卡影像，觀察到兩根分離的線條剛好重合成一根線條時(shí)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為系統(tǒng)的空間分辨率。

附  錄  B   
（規(guī)范性附錄）
對(duì)比靈敏度的測(cè)試

B.1 概述
對(duì)比靈敏度是可檢測(cè)到的最小射線劑量改變量，反映了發(fā)現(xiàn)沿射線束方向缺陷的能力。
B.2  對(duì)比靈敏度試塊
對(duì)比靈敏度試塊按ASTM E 1647的要求制造。
B.3 對(duì)比靈敏度的測(cè)量
B.3.1 對(duì)比靈敏度的測(cè)量在靜態(tài)下進(jìn)行。
B.3.2 對(duì)比靈敏度的測(cè)量應(yīng)盡可能接近實(shí)際檢驗(yàn)條件。這些條件包括管電壓、管電流、焦距、降噪時(shí)間等參數(shù)。
B.3.3 最淺的凹進(jìn)處能可靠的且重復(fù)的成像，定為極限對(duì)比靈敏度













附  錄  C
（規(guī)范性附錄）
對(duì)比試塊的型式和規(guī)格
C.1  對(duì)比試塊
對(duì)比試塊分為小徑管專用對(duì)比試塊（Ⅰ型）和一般對(duì)比試塊（Ⅱ型）兩類。制作對(duì)比試塊的材料應(yīng)與被檢工件的材料的射線吸收系數(shù)相同或相近。
C.2  小徑管專用對(duì)比試塊的型式、規(guī)格和尺寸
Ⅰ型專用對(duì)比試塊分ⅠA和ⅠB兩種型式，其規(guī)格和尺寸應(yīng)符合圖C.1和表C.1的規(guī)定。

                            圖C.1  小徑管專用對(duì)比試塊Ⅰ     
管壁厚T        第一階厚度T1        偏差        第二階厚度T2        偏差        第三階厚度T3        偏差
3.5        1        0
- 0.06        0.65        + 0.025
0        0.5        +0.025
0
4        1                0.6                0.4       
5        1                0.5                0.25       
6        1                0.4                0.1       

表C.1 小徑管專用對(duì)比試塊（Ⅰ型）的尺寸      mm







附  錄 D
（資料性附錄）
D.1實(shí)時(shí)成像操作流程圖

                                                                           


                                                                    


                                                                    

                                       

                                                    No
                                                                                          
                                                是