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      遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)資訊網(wǎng)
      
標(biāo)題: 無(wú)損檢測(cè)在線問(wèn)題解答 [打印本頁(yè)]
      

      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2010-10-10 20:28
      
標(biāo)題: 無(wú)損檢測(cè)在線問(wèn)題解答
      倡議在此空間成立無(wú)損檢測(cè)在線問(wèn)題解答專區(qū)，大家將工作中遇到的問(wèn)題在此曬出，征求解決方案。感興趣的同仁在此獻(xiàn)計(jì)獻(xiàn)策，共同促進(jìn)無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用能力和水平的提高！
      
作者: furulong    時(shí)間: 2010-10-11 08:49
      
這個(gè)倡議很好，可以提供相互交流的一個(gè)平臺(tái)，支持！
      
作者: 強(qiáng)天鵬    時(shí)間: 2010-10-11 10:06
      
支持！參與！
      
作者: ZMJ    時(shí)間: 2010-10-11 11:30
      
很好的建議！支持
      
作者: 一級(jí)片    時(shí)間: 2010-10-30 20:06
      
支持！ 我不懂就在這里問(wèn)了！ 樓上各位大師跟你們混了！
      
作者: jirenping    時(shí)間: 2010-12-10 16:42
      
關(guān)于返修幾次才換板，各位大哥有什么標(biāo)準(zhǔn)和工藝？
      
作者: liurong    時(shí)間: 2010-12-21 17:11
      
思路很好，支持！
      
作者: xcb526    時(shí)間: 2011-1-31 08:40
      
強(qiáng)烈支持！
      
作者: George    時(shí)間: 2011-3-23 16:18
      
各位同行好！我現(xiàn)在正在使用ASME標(biāo)準(zhǔn)，遇到可能要在凹面上做超聲的問(wèn)題，不知道ASME 哪里有在凹面上掃查的依據(jù)，怎么做，相關(guān)的試塊和在凸曲面上掃查一樣嗎？
      
譬如說(shuō)從管道內(nèi)壁用斜探頭做環(huán)焊縫超聲檢測(cè)，從管道內(nèi)壁用直探頭做附在外壁上的角焊縫等
      
求答。。。
      
作者: 李濟(jì)科    時(shí)間: 2011-3-23 17:16
      

      響應(yīng)、支持！今后我提問(wèn)的帖子在這里發(fā)。希望同行不吝賜教。
      
作者: xcb526    時(shí)間: 2011-3-26 19:25
      
Me      too
      
作者: wangdao5178    時(shí)間: 2011-4-4 15:58
      
關(guān)于4730中關(guān)于深孔的評(píng)定的問(wèn)題，哪幾類貨什么樣的容器屬于致密性要求過(guò)高的容器？有沒(méi)有具體的規(guī)定比如說(shuō)毒性介質(zhì)的或者壓力多少的？還有就是究竟什么程度的黑度才算是黑度較大呢？能不能量化來(lái)講，比如比母材大多少或者其他之類的經(jīng)驗(yàn)值.有個(gè)可比性也好心里有底啊，多謝，感激不盡
      
.
      
作者: hebutszb    時(shí)間: 2011-4-8 22:27
      
支持并參與
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-12 08:05
      
最近遇到一個(gè)小問(wèn)題：磁粉檢測(cè)后會(huì)對(duì)焊接有影響嗎？譬如在焊縫的破口上做常規(guī)磁軛MT探傷，會(huì)對(duì)以后的焊接有電磁影響?如電弧偏吹？ 煩各位幫忙解答。
      

      
作者: NDT513    時(shí)間: 2011-5-13 15:12
      
支持！參與！
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-16 20:17
      
由于正常使用磁軛為交流電，在磁軛離開(kāi)的同時(shí)，也就對(duì)檢測(cè)磁化的焊縫/坡口進(jìn)行了退磁處理，故一般不會(huì)對(duì)焊接形成影響。
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-24 14:18
      
大家好！我看了標(biāo)準(zhǔn)對(duì)檢測(cè)面的粗糙度有要求，但是沒(méi)有看到對(duì)檢測(cè)面的平整度要求，現(xiàn)在遇到這個(gè)問(wèn)題，不知道在哪里可以查到相關(guān)要求？
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-24 15:02
      
何種檢測(cè)方法？檢測(cè)儀器？
      
能否將你遇到的問(wèn)題詳細(xì)描述？
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-24 17:28
      
不好意思，常規(guī)的超聲檢測(cè)，表面狀況，有點(diǎn)起伏
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-24 19:01
      
EN1714 第8條規(guī)定，檢測(cè)表面的不平整造成的探頭與工件表面的最大間距不應(yīng)大于0.5毫米。
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-24 20:39
      
謝謝丁工，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)我也看到了，但是現(xiàn)在執(zhí)行的是ASME標(biāo)準(zhǔn)，不知道ASME標(biāo)準(zhǔn)上有沒(méi)有相關(guān)規(guī)定或知識(shí)？如果引用EN標(biāo)準(zhǔn)，又變成標(biāo)準(zhǔn)體系變化的問(wèn)題，不知道EN規(guī)定0.5mm這個(gè)數(shù)值的原理是什么？
      
另外，我試圖從曲面考慮這個(gè)問(wèn)題，參考JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)5.1.3.4 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R=<W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊。也就是說(shuō)只要滿足R>W2/4時(shí),就不用對(duì)比試塊，可以認(rèn)為曲面耦合可以接受的，根據(jù)這個(gè)公式計(jì)算間隙的臨界值就行了，不知可否？也不知標(biāo)準(zhǔn)上的公式是怎么來(lái)的？
      

      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-24 21:17
      
ASME V T471.5規(guī)定：當(dāng)焊縫或母材影響檢測(cè)應(yīng)進(jìn)行必要的修磨；
      
ASME SE 114 6.1.3.3有與EN1714相當(dāng)?shù)囊?guī)定，要求不大于0.5毫米，但必須充滿合適的耦合劑。
      

      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-26 15:15
      
哪位同行知道ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)Ir-192透照厚度范圍的規(guī)定在哪里？小弟找半天只找到對(duì)于100KV~500KV能量有2.5~10個(gè)半值層的規(guī)定。
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-26 15:18
      
感謝丁工的解答！
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-26 18:15
      
哪位同行知道ASME標(biāo)準(zhǔn)對(duì)Ir-192透照厚度范圍的規(guī)定在哪里？小弟找半天只找到對(duì)于100KV~500KV能量有2.5~10個(gè)半值層的規(guī)定。
      
無(wú)具體要求，只要黑度和靈敏度合格就行。
      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-26 21:43
      
丁工，我看E94第7條能量的選擇，對(duì)于100KV~500KV能量照射2.5~10個(gè)半值層厚度物質(zhì)，可以獲得滿意的結(jié)果，而Ir-192相當(dāng)于400Kv的能量，其鋼的半值層為8.9mm，故透照厚度為22.25~89mm之間，是否可以認(rèn)為是標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定？
      
 但是我看到國(guó)內(nèi)的中外標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比相關(guān)論文說(shuō)ASME標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定Ir-192透照厚度為>=19mm,所以有疑問(wèn)?  請(qǐng)多指教。
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-5-29 14:29
      
 本帖最后由 丁偉臣 于 2011-5-29 14:34 編輯 
      

      
美標(biāo)中強(qiáng)調(diào)檢測(cè)結(jié)果---演示驗(yàn)證檢測(cè)工藝是否滿足要求---孔型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別：對(duì)比度（至少３邊可見(jiàn)）和清晰度（小孔清晰可見(jiàn)）。－－－故Ｉｒ１９２源的透照范圍不應(yīng)僅限制在２０～１００毫米，可能更寬。
      
歐標(biāo)由于絲型像質(zhì)計(jì)的使用，不能直接獲得對(duì)比度的信息，因?yàn)槲覀兘z的可見(jiàn)是對(duì)比度和不清晰度的綜合。－－－故要求過(guò)程參數(shù)的控制保證一定的檢測(cè)質(zhì)量。另：歐標(biāo)規(guī)定一般的檢測(cè)對(duì)象可直接執(zhí)行檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，無(wú)須工藝驗(yàn)證。
      
不同的文化導(dǎo)致不同的規(guī)定。其實(shí)如果更好的膠片系統(tǒng)或透照工藝的應(yīng)用，放射源的厚度覆蓋范圍可能更廣，比如在歐標(biāo)中對(duì)應(yīng)的中心透照特殊規(guī)定。
      

      
作者: George    時(shí)間: 2011-5-30 09:03
      
謝謝丁工，小弟受教，感激不盡！
      
作者: George    時(shí)間: 2011-6-20 12:23
      
同行們，請(qǐng)問(wèn)射線源透照工件，一般情況下，如果源強(qiáng)Ci數(shù)過(guò)小，致使曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，會(huì)對(duì)射線照相質(zhì)量產(chǎn)生影響嗎，會(huì)產(chǎn)生什么影響？（例如不清晰度，對(duì)比度等）
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-6-20 22:04
      
已回答，見(jiàn)我的留言！
      
作者: 大俠    時(shí)間: 2011-12-20 08:37
      
{:soso_e179:}
      
作者: 呂文鵬    時(shí)間: 2011-12-20 10:49
      
好主意！{:soso_e179:}
      
作者: ZGP    時(shí)間: 2011-12-20 11:35
      
這個(gè)倡議很好
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2011-12-20 12:16
      
主意很好支持！
      
作者: ranyong    時(shí)間: 2011-12-20 23:04
      
不錯(cuò)的建議！支持！
      
作者: 王緒軍    時(shí)間: 2011-12-22 19:32
      
我提一個(gè)問(wèn)題支持一下。
      
         對(duì)接焊縫超聲波檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)一缺陷，同一探頭，不同廠家的超聲波探傷儀檢測(cè)，最高波幅相差很大；是什么原因？
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2011-12-23 20:08
      
一般來(lái)說(shuō)儀器的特性對(duì)所有的常用探頭具有一定的穩(wěn)定性和重復(fù)性，即使儀器的脈沖和帶寬有別。
      
工作中曾遇到同樣的探頭和儀器，在使用一段時(shí)間后，同一反射體的回波升高較多的情形----探頭晶片破損與基體局部分離，導(dǎo)致阻尼降低！
      
作者: 王緒軍    時(shí)間: 2011-12-23 22:51
      
  可能是我沒(méi)有說(shuō)清楚：
      
          對(duì)接焊縫超聲波檢測(cè)，執(zhí)行GB11345-89標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)現(xiàn)一缺陷，使用同一探頭，2個(gè)廠家的超聲波探傷儀檢測(cè)，缺陷最高波幅一個(gè)超過(guò)判廢線，一個(gè)僅僅在1區(qū)；是什么原因？
      
作者: 強(qiáng)天鵬    時(shí)間: 2011-12-23 23:42
      
檢測(cè)前是否用同一對(duì)比試塊（比如CSK2A或CSK3A)校準(zhǔn)過(guò)2個(gè)廠家的超聲波探傷儀？，如果校準(zhǔn)過(guò)，就不應(yīng)該出現(xiàn)這一情況！
      
作者: kuailaira9    時(shí)間: 2011-12-28 02:42
      
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽

      
作者: zxz    時(shí)間: 2012-1-10 18:20
      
強(qiáng)烈支持
      
作者: 依蘭絲柏    時(shí)間: 2012-1-15 15:34
      
 本帖最后由 依蘭絲柏 于 2012-1-16 08:20 編輯 
      

      
請(qǐng)教下老師：
      
數(shù)字機(jī)水平線性、盲區(qū)、分辨力的性能測(cè)試如何操作
      
作者: 下蔡庶民    時(shí)間: 2012-2-2 14:52
      

      George 發(fā)表于 2011-5-26 21:43 
      
丁工，我看E94第7條能量的選擇，對(duì)于100KV~500KV能量照射2.5~10個(gè)半值層厚度物質(zhì)，可以獲得滿意的結(jié)果，而I ...

      
這里提到了Ir-192相當(dāng)于400Kv的能量，請(qǐng)問(wèn)這個(gè)換算的公式和依據(jù)在哪里？
      
KV與MeV的關(guān)系在我們的教材有沒(méi)有相應(yīng)的說(shuō)明? 
      
非常感謝解答。
      

      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-2-6 20:22
      
數(shù)字機(jī)水平線性、盲區(qū)、分辨力的性能測(cè)試如何操作：
      
水平線性的測(cè)定，數(shù)字機(jī)與模擬機(jī)相同；
      
盲區(qū)和分辨力是儀器與探頭組合的性能測(cè)定，操作按照不同的標(biāo)準(zhǔn)，在不同的試塊上，進(jìn)行測(cè)定，方法中不分?jǐn)?shù)字設(shè)備和模擬設(shè)備。
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-2-6 20:30
      
KV：X管兩端高壓值
      
KVp:X管兩端高壓峰值
      
MeV：有效能量單位，1MeV為1個(gè)電子在1MV高壓下獲得的最大能量。
      
Ir-192相當(dāng)于400Kv的能量，因?yàn)槠淠茏V的平均能量為0.355MeV.
      
作者: NDT無(wú)損檢測(cè)    時(shí)間: 2012-2-9 11:18
      
[b]這個(gè)平臺(tái)號(hào)，我以后有問(wèn)題在此請(qǐng)教。{:soso_e100:}
      
作者: NDT無(wú)損檢測(cè)    時(shí)間: 2012-2-9 11:18
      
這個(gè)平臺(tái)好的。
      
作者: 牛牛扭扭    時(shí)間: 2012-2-10 21:22
      
這個(gè)平臺(tái)好的 。
      

      
作者: 張合方    時(shí)間: 2012-2-13 10:35
      
支持！
      
作者: 鐵牛7200    時(shí)間: 2012-2-14 14:20
      
這個(gè)平臺(tái)很好，支持一下。
      
作者: 嘎詠峰    時(shí)間: 2012-3-1 11:28
      
好，多多學(xué)習(xí)。
      
作者: 大俠    時(shí)間: 2012-3-1 14:29
      
[attach]2353[/attach]{:soso__5462389604067913156_1:}
      
作者: szlinxd    時(shí)間: 2012-3-3 14:29
      
請(qǐng)問(wèn)大家 超聲波的探頭線的型號(hào)有哪些啊？各適用什么樣的探頭。
      
作者: NDT無(wú)損檢測(cè)    時(shí)間: 2012-3-3 14:35
      

      jirenping 發(fā)表于 2010-12-10 16:42 
      
關(guān)于返修幾次才換板，各位大哥有什么標(biāo)準(zhǔn)和工藝？

      
要看什么材料，用于什么產(chǎn)品，一般情況不超過(guò)三次返修！
      

      
作者: NDT無(wú)損檢測(cè)    時(shí)間: 2012-3-3 14:39
      
{:soso_e189:} 支持
      
作者: NDT無(wú)損檢測(cè)    時(shí)間: 2012-3-3 14:42
      
{:soso_e179:}
      
作者: 滾燙的小米粥    時(shí)間: 2012-3-7 13:54
      
關(guān)于磁粉探傷的小問(wèn)題。關(guān)于磁軛提升力的，現(xiàn)在的單磁軛提升力效驗(yàn)由于磁軛是一邊尖角，另一邊接觸面積比較大，我們一般效驗(yàn)時(shí)以哪一側(cè)為主呢
      
作者: 滾燙的小米粥    時(shí)間: 2012-3-7 14:04
      
再問(wèn)一下關(guān)于超聲波或者射線超過(guò)三次翻修的處理辦法，如果說(shuō)作廢這類的我就不要了，只想問(wèn)可行的處理意見(jiàn)，請(qǐng)指教。
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-3-7 20:04
      
提升力與磁通量有一定的關(guān)系，但不一定提升力符合要求，我們檢測(cè)區(qū)域的磁化強(qiáng)度就能達(dá)到檢測(cè)的需要。
      
在此，應(yīng)強(qiáng)調(diào)在產(chǎn)品制造型式產(chǎn)品時(shí)，應(yīng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試塊上中心區(qū)域的磁場(chǎng)強(qiáng)度和提升力，在確保合格后，檢測(cè)過(guò)程中，才可用提升力監(jiān)控設(shè)備的可用性。經(jīng)實(shí)際比對(duì)試驗(yàn)，當(dāng)磁極與工件接觸為點(diǎn)接觸時(shí)，磁化強(qiáng)度大約下降30%左右，你說(shuō)應(yīng)該如何呢？
      
返修次數(shù)，不是無(wú)損檢測(cè)問(wèn)題，是焊接工藝問(wèn)題，從焊接工藝基礎(chǔ)知識(shí)將，不同的材質(zhì)可能承受不同次數(shù)的返修。但作為法規(guī)，我們不能知法犯法，一些書本上的東西沒(méi)有寫入法規(guī)，或經(jīng)過(guò)驗(yàn)證，慎用。
      
作者: 滾燙的小米粥    時(shí)間: 2012-3-9 08:01
      
也就是說(shuō)提升力并不是考量是否能檢出缺陷，而是應(yīng)該有標(biāo)準(zhǔn)試片來(lái)衡量，對(duì)嗎？我個(gè)人覺(jué)得提升力只是校驗(yàn)設(shè)備的一個(gè)參數(shù)。另外測(cè)量提升力指的是點(diǎn)接觸嗎？還有 現(xiàn)在的磁探機(jī)磁軛做成一面尖角，一面鈍角的，按照我個(gè)人習(xí)慣是接線端在小指頭后，這樣拉磁探機(jī)時(shí)感覺(jué)磁力不是很足，想問(wèn)一下這種設(shè)計(jì)是我握法有問(wèn)題嗎，用靈敏度試片兩者也都一樣。
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-3-9 11:21
      
驗(yàn)證磁粉檢測(cè)系統(tǒng)的綜合性能的方法中，標(biāo)準(zhǔn)試片僅是其中的一種，最佳的方法是使用帶有臨界缺陷的實(shí)際工件。點(diǎn)接觸設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)避免使用因?yàn)椴患训拇呕ЧＨ绺杏X(jué)到磁力不足，檢測(cè)應(yīng)立即停下。
      
作者: qdgt    時(shí)間: 2012-5-2 12:44
      
互通有無(wú)，互相學(xué)習(xí)，共同進(jìn)步，絕對(duì)支持！
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-2 17:21
      
強(qiáng)烈支持！！！
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-2 17:25
      
丁工您好！請(qǐng)問(wèn)底片曝光后受折，他們留下的痕跡都是黑色的影像，這是什么原因?
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-5-2 17:34
      
壓力作用引起增加額外的曝光，從而增加了局部的黑度！
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-2 17:53
      
壓力也能使底片曝光嗎？（光子或電子才能使溴化銀感光嗎？）
      
作者: 阿德哥    時(shí)間: 2012-5-6 16:39
      
頂一下！
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-7 22:34
      
[attach]2799[/attach]
      
丁工！這個(gè)問(wèn)題答案紅筆標(biāo)的第一句應(yīng)該是測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度吧！紅筆標(biāo)的雜亂波峰是指缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的意思嗎？
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-5-8 19:46
      
這是缺陷測(cè)高的方法，多點(diǎn)指的是缺陷反射有多個(gè)峰值的意思。但該方法有一定的難度，主要是缺陷不是我們想象的那么規(guī)則，而且回波的峰值不一定是缺陷的端點(diǎn)，因?yàn)樵谏隙它c(diǎn)可能存在這樣的端點(diǎn)，但在下端點(diǎn)，就不一定了。故該方法僅是大致的缺陷高度測(cè)量方法，主要要于與測(cè)試面垂直的裂紋類缺陷的高度測(cè)量！
      
作者: qdgt    時(shí)間: 2012-5-9 18:57
      
完全贊同，堅(jiān)決支持，熱烈擁護(hù)
      

      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-9 19:04
      
丁工！這兩個(gè)問(wèn)題中講到的堆焊方向相對(duì)母材一般是怎么走向？另外未貼合方向和堆焊方向的關(guān)系?
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-5-9 19:45
      
有些道理，但不完全！
      
如果確實(shí)要求檢測(cè)基層裂紋，應(yīng)增加斜探頭掃查！
      
對(duì)于堆焊層中焊接缺陷和與基層的熔合類缺陷，雙晶探頭的晶片中間分隔線應(yīng)平行于焊接方向，同時(shí)掃查方向垂直于焊接方向，主要考慮檢測(cè)縱向缺陷，如條渣和未熔合類缺陷。
      
對(duì)于檢測(cè)基層缺陷，一般為裂紋類，掃查方向并不重要，關(guān)鍵是掃查角度了！
      
如懷疑有裂紋類在堆焊層，最佳的方案是70度或45度斜探頭多角度掃查！
      
作者: wobuhuaxin999    時(shí)間: 2012-5-11 10:07
      
丁工  你好   我對(duì)超聲探頭這個(gè)波形轉(zhuǎn)換不懂  不是橫波不能在液體中傳播嗎？   那么加了耦合劑怎么探的呢？
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-14 21:34
      
丁工您好！請(qǐng)問(wèn)在容器封頭或筒體挖補(bǔ)一個(gè)圓形焊縫，確定一次透照長(zhǎng)度是按縱縫還是環(huán)縫，我認(rèn)為按縱縫比較好，因?yàn)镵值控制的嚴(yán)格。
      
作者: zyylrq    時(shí)間: 2012-5-16 17:54
      
丁工！潛影中的被還原的銀與顯影后還原的銀有什么區(qū)別？為什么潛影不可見(jiàn)！
      
作者: lilingjian    時(shí)間: 2012-5-22 09:00
      
標(biāo)題: 空氣比釋動(dòng)能率的實(shí)際應(yīng)用
       本帖最后由 lilingjian 于 2012-5-22 12:41 編輯 
      

      
想請(qǐng)教大家個(gè)問(wèn)題，探傷工作中用到的計(jì)算公式經(jīng)常有空氣比釋動(dòng)能率這個(gè)概念，而在我們探傷工作輻射防護(hù)的應(yīng)用當(dāng)中，是否可以大致把它看做和輻射劑量率的含義一樣？比如說(shuō)離γ源10米處的空氣比釋動(dòng)能率是2mGy/h，那么人在這個(gè)地方所受輻射的當(dāng)量劑量率也是2msv/h嗎？現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定工作人員每年平均有效劑量限值是20msv，那么工作人員在這個(gè)地方一年最多能呆幾個(gè)小時(shí)呢？是否可以這樣計(jì)算：20除以2(2是距源10米處的比釋動(dòng)能率)等于10，也就是說(shuō)工作人員一年最多在那個(gè)地方累積工作10小時(shí)，我的理解正確嗎？
      
作者: dezhou332211    時(shí)間: 2012-5-22 10:16
      
哪位有或者了解超聲波在材料表面?zhèn)鞑ヅc材料體內(nèi)傳播的理論？我想弄明白超聲波速度在材料表面和體內(nèi)的異同（及其是否存在定量關(guān)系）。先說(shuō)聲謝謝！！
      
作者: XYZ    時(shí)間: 2012-5-22 12:11
      
345B方管對(duì)接，壁厚8毫米，J502焊條，V型坡口，坡口間隙4-5個(gè)毫米，有襯墊，第一道焊接后，熔池和母材處整條開(kāi)裂，什么問(wèn)題？我認(rèn)為是襯墊的原因（襯墊與方管內(nèi)壁不緊貼，導(dǎo)致溶滴在固化的同時(shí)，往不緊貼的地方流失，連同焊縫收縮的因素，導(dǎo)致開(kāi)裂，希望有經(jīng)驗(yàn)的討論下，有沒(méi)我說(shuō)的這種可能？
      

      
作者: 星火    時(shí)間: 2012-5-22 20:02
      
很好的建議，支持
      
作者: 賀樹春    時(shí)間: 2012-5-29 16:46
      
強(qiáng)烈支持 
      

      
作者: 檢驗(yàn)計(jì)劃    時(shí)間: 2012-5-29 18:54
      
支持，中國(guó)的無(wú)損檢測(cè)需要這樣一個(gè)高水平平臺(tái)。
      
作者: 阿ｓ    時(shí)間: 2012-6-1 23:55
      
復(fù)合板的片子厚度是算基層還是基層+復(fù)合層呢？
      
作者: ＂Five_Day~~    時(shí)間: 2012-6-6 09:16
      
請(qǐng)問(wèn)下現(xiàn)在考證分地區(qū)嗎？ 就是我一rt2級(jí)證是在湖南考的，但是在江蘇的單位工作并注冊(cè)。那我現(xiàn)在要考ut2級(jí) 還可以回湖南考嗎？？ 
      
作者: 周小夢(mèng)    時(shí)間: 2012-6-8 09:38
      
丁工，你好，我有一個(gè)問(wèn)題想向你請(qǐng)教，膠片顆粒度通俗的怎么理解這個(gè)概念，它與什么有關(guān)？膠片上的顆粒度是鹵化銀，底片上是銀，這兩者有什么聯(lián)系和區(qū)別。
      
作者: Endlesslove    時(shí)間: 2012-6-8 16:32
      
頂，支持
      
作者: songlebin    時(shí)間: 2012-6-10 16:52
      
堅(jiān)決支持
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-6-10 18:51
      
丁工，你好，我有一個(gè)問(wèn)題想向你請(qǐng)教，膠片顆粒度通俗的怎么理解這個(gè)概念，它與什么有關(guān)？膠片上的顆粒度是鹵化銀，底片上是銀，這兩者有什么聯(lián)系和區(qū)別。
      
回答：膠片顆粒度是人眼觀察是，底片上總的溴化銀顆粒分布的總體感官，它于本身溴化銀顆粒、曝光條件、顯影條件、顯影程度、射線能量等有關(guān)，溴化銀顆粒是形成膠片顆粒度的基本單位！
      
作者: szy    時(shí)間: 2012-6-12 10:47
      
{:soso_e179:}
      
作者: 德德    時(shí)間: 2012-6-26 18:55
      
 本帖最后由 德德 于 2012-7-12 07:42 編輯 
      

      
{:soso_e100:}各位老師。請(qǐng)教6毫米8毫米10毫米鋼板雙晶探頭的焦距如何選擇。標(biāo)準(zhǔn)上有什么要求。做鋼板探傷。
      
作者: 劍俠    時(shí)間: 2012-6-27 08:27
      
強(qiáng)烈支持 
      

      
作者: Endlesslove    時(shí)間: 2012-6-27 13:11
      
{:soso_e179:}
      
作者: dezhou332211    時(shí)間: 2012-6-28 10:12
      
哪位知道超聲波在物件表面?zhèn)鞑ズ臀锛?nèi)部傳播的異同及有無(wú)數(shù)值關(guān)系？謝謝
      
作者: dezhou332211    時(shí)間: 2012-6-28 10:13
      
有這方面資料的請(qǐng)傳一份給小弟好么？謝謝
      
作者: qhming    時(shí)間: 2012-7-3 11:32
      
請(qǐng)教：為何在GE的UT培訓(xùn)資料上探頭發(fā)出的超聲束圖形與特種設(shè)備教材的不一樣，什么原因？見(jiàn)圖片附件
      
作者: 晨風(fēng)    時(shí)間: 2012-7-7 09:31
      
丁工，管徑大于500且有兩個(gè)及以上丁字縫的壓力管道，抽檢比例是10%，按要求抽拍一個(gè)丁字縫就可以了，然而有的人又堅(jiān)持每個(gè)丁字縫都要抽查，是這樣么？有哪個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范上有說(shuō)明？謝謝！
      
作者: Endlesslove    時(shí)間: 2012-7-8 09:39
      
{:soso_e163:}
      
作者: L249890962G    時(shí)間: 2012-7-9 17:26
      
強(qiáng)烈支持，好想法，如果有問(wèn)必答那就太好了
      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-7-10 09:18
      
qhming:GE的資料是正確的！
      
晨風(fēng)：一般來(lái)說(shuō)T字縫應(yīng)100%檢測(cè)，而且不應(yīng)計(jì)算在抽查比例中，可能我們的規(guī)范沒(méi)表述清楚。
      
作者: qhming    時(shí)間: 2012-7-10 11:18
      

      丁偉臣 發(fā)表于 2012-7-10 09:18 
      
qhming:GE的資料是正確的！
      
晨風(fēng)：一般來(lái)說(shuō)T字縫應(yīng)100%檢測(cè)，而且不應(yīng)計(jì)算在抽查比例中，可能我們的規(guī)范沒(méi) ...

      


      
丁工，您好：請(qǐng)教-為什么會(huì)出現(xiàn)這種差異呢？難道特種設(shè)備的教材錯(cuò)了
      

      
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-7-10 16:33
      
教材沒(méi)錯(cuò)，只不過(guò)是表達(dá)的意義不同，我們教材表達(dá)的通用探頭通常情形簡(jiǎn)化分為不擴(kuò)散區(qū)和遠(yuǎn)場(chǎng)，GE表達(dá)的是特定的探頭按照6分貝測(cè)得的聲場(chǎng)分布。




      

      

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