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      標(biāo)題: 和A超相比較,TOFD最大的優(yōu)點(diǎn)是什么? [打印本頁]

      作者: 王緒軍    時(shí)間: 2014-1-20 21:32
      標(biāo)題: 和A超相比較,TOFD最大的優(yōu)點(diǎn)是什么?
      和A超相比較,TOFD最大的優(yōu)點(diǎn)是什么?是它能夠取代x射線?是它可記錄?是它對(duì)缺陷定性更準(zhǔn)確?還是其他?大家來討論討論。

      作者: NDT-LIU    時(shí)間: 2014-1-21 08:39
      支持 最真實(shí)的 X射線,,,{:soso_e103:}
      作者: 假面    時(shí)間: 2014-1-21 11:38
      最大優(yōu)勢:對(duì)于深度的測量精度,以時(shí)間差計(jì)算,和手工考慮角度、手勁等等外界因素相比,得到的深度精度高。   個(gè)人拙見
      作者: 祝你開心    時(shí)間: 2014-1-21 17:24
      應(yīng)該是因?yàn)樗鼘?duì)裂紋等危險(xiǎn)缺陷檢出率更高吧。
      作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-1-21 19:39
      TOFD最大優(yōu)點(diǎn)是測長。其它的定量精度皆不是特別高(相對(duì)相控陣等,有時(shí)也比普通A超低)。最大缺點(diǎn)是盲區(qū)太大。厚板裂紋檢出率比射線高。屬于可記錄超聲系列。目前,并不能取代射線,只是搶占了射線檢測的市場而已,而且占有率不是很大。在某些領(lǐng)域,TOFD取代射線還是得到一定認(rèn)可的,比如球罐。
      TOFD對(duì)缺陷定性并不比普通超聲高,和實(shí)際檢測工藝相關(guān)度較高!
      實(shí)際檢測工藝及控制水平,各檢測單位有很大差距。和相控陣檢測相比,TOFD焊縫全深度范圍覆蓋不夠(理論計(jì)算和工藝性覆蓋試驗(yàn)相差較大)。而且單次或多次掃查,不能解決上下表面盲區(qū)的問題
      作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-1-21 19:46
      另外,TOFD檢測結(jié)果可信度比普通超聲檢測高,但缺陷漏檢率、誤判率也是較高的。這和手工普通超聲檢測工藝及執(zhí)行情況有關(guān)。TOFD和手工超聲結(jié)合起來,可以提高缺陷檢出率,以及減少橫向缺陷漏檢,降低缺陷誤判及減小TOFD對(duì)良性缺陷的夸張程度。
      總之,相控陣標(biāo)準(zhǔn)快要出臺(tái)了,不知道TOFD技術(shù)......
      作者: 王緒軍    時(shí)間: 2014-1-22 09:41
      最大優(yōu)勢:對(duì)于深度的測量精度

      {:soso_e179:}
      作者: 謝茂源    時(shí)間: 2014-1-22 14:13
      luolang1314 發(fā)表于 2014-1-21 19:39
      TOFD最大優(yōu)點(diǎn)是測長。其它的定量精度皆不是特別高(相對(duì)相控陣等,有時(shí)也比普通A超低)。最大缺點(diǎn)是盲區(qū)太 ...

      TOFD最大優(yōu)點(diǎn)是測長嗎?應(yīng)該是缺陷高度吧
      作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-1-22 15:03
      其實(shí)對(duì)于超聲檢測來說,要想準(zhǔn)確測定高度,需要從檢測工藝方面著手,特別是探頭性能。所以籠統(tǒng)的說哪種超聲檢測技術(shù)測定缺陷高度的精度較高,個(gè)人覺得并不合適!
      作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2014-1-22 19:32
      本帖最后由 糟老頭子 于 2014-1-22 19:36 編輯

      我覺得在厚度方向上對(duì)缺陷的高度測量精確是一大優(yōu)勢吧,因?yàn)閿嗔蚜W(xué)中這是個(gè)重要的參數(shù)。
      沒看到樓主的觀點(diǎn)是什么?@luolang1314 君為何覺得以上優(yōu)勢沒有相控陣大呢?我不這么認(rèn)為:當(dāng)聲波不能垂直打到缺陷上時(shí),就可能沒有缺陷的邊緣回波反射回到探頭來讓你精確測量它的高度。可以講講你的看法嗎?
      @luolang1314
      作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2014-1-22 22:14
      @luolang1314 抱歉,我沒有在你的鏈接中找到“在相控陣面前,它測定缺陷高度是沒有任何優(yōu)勢的。”
      如果你指的是happynation說的“PAUT也可直接測端角衍射了”,看看TOFD的英文全稱:Time Of Flight Diffraction。用PAUT的衍射波來測高也是用的衍射時(shí)差法。
      作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-1-23 07:23
      未查到相關(guān)文獻(xiàn)證明相控陣測高精度優(yōu)于TOFD,上面的說法僅從實(shí)際檢測當(dāng)中(TOFD檢測和解剖實(shí)驗(yàn))推斷而來,所以不夠嚴(yán)謹(jǐn),希望不會(huì)誤導(dǎo)壇友!
      同樣的未查到TOFD測高精度比手工超聲、PA高的文獻(xiàn)。如有,希望壇友們提供一下。
      不同檢測方式、工藝測定缺陷的高度定量試驗(yàn)也似乎沒有,有條件的壇友可以自己動(dòng)手做一下對(duì)比試驗(yàn),用數(shù)據(jù)說話,總比理論探討要實(shí)惠得多!
      作者: 假面    時(shí)間: 2014-1-23 08:41
      luolang1314 發(fā)表于 2014-1-21 19:39
      TOFD最大優(yōu)點(diǎn)是測長。其它的定量精度皆不是特別高(相對(duì)相控陣等,有時(shí)也比普通A超低)。最大缺點(diǎn)是盲區(qū)太 ...

      測量長度上類似手超6dB法吧?不是它的優(yōu)勢吧?

      作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-1-23 09:04
      假面 發(fā)表于 2014-1-23 08:41
      測量長度上類似手超6dB法吧?不是它的優(yōu)勢吧?

      這個(gè)怎么說呢?TOFD長度測量在灰度圖譜上一般采用的是R弧擬合法確定缺陷長度的端點(diǎn),原理上類似手工超聲6dB法吧;但是由于TOFD采用的探頭一般為5M fai 6  60°窄脈沖探頭,無論是聲場特性、晶片尺寸,還是回波品質(zhì)都優(yōu)于手工常規(guī)橫波斜探頭(K2 8*12或13*13),所以在長度方向上的縱向分辨力要優(yōu)于手工6dB法測長的。
      如果定量要求高的手工超聲檢測,將會(huì)采用專用測長、測高的探頭(也有專用的掃查缺陷的探頭,其定量精度不是特別高),這樣會(huì)大大提高缺陷尺寸測定水平的。所以,拿TOFD檢測和普通手工超聲進(jìn)行比較,有時(shí)候并不是在同一個(gè)層面上進(jìn)行比較,容易得出TOFD定位、定量較為準(zhǔn)確的結(jié)論的。
      當(dāng)然一般情況下,將TOFD定長和手工A超測長進(jìn)行比較,是基于一定試驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)的,值得檢測人員去了解!

      作者: 王緒軍    時(shí)間: 2014-1-23 10:10
      能夠測量精確缺陷的高度應(yīng)該是tofd最大的憂點(diǎn)!歐洲tofd技術(shù)應(yīng)用時(shí)間長,但是相控陣技術(shù)美國應(yīng)用得比較多。
      作者: ywj010    時(shí)間: 2014-1-23 15:52
      TOFD和普通超聲相比最最大的優(yōu)點(diǎn)是可記錄。
      作者: 滾燙的小米粥    時(shí)間: 2014-1-24 09:53
      個(gè)人意見:tofd測長并不比常規(guī)超聲精確多少,關(guān)于擬合方面全憑計(jì)算機(jī)計(jì)算,與真實(shí)情況有差異,TOFD備受推薦應(yīng)該就是測高,確實(shí)比較準(zhǔn),當(dāng)然對(duì)于薄板,越靠近掃查面誤差越大,這也是不爭的事實(shí)。

      至于定性,那和射線差不多,反而比射線更需要經(jīng)驗(yàn)吧。

      若真是要分出與射線的優(yōu)勢:
      1.個(gè)人認(rèn)為熟練工人操作tofd設(shè)備,檢測速度要遠(yuǎn)超射線,我指的是工作量大的。
      2.無輻射,對(duì)國際項(xiàng)目有優(yōu)勢,老外嘛,滿嘴的人權(quán),你們懂的。
      3,節(jié)省成本,底片真心貴,遇到迷糊的工人,給我廢了一大盒子。
      4,以后真的取代射線,建設(shè)成本要低太多了,隨便一個(gè)探傷室沒有個(gè)幾百萬,不要想了,而tofd設(shè)備卻越來越便宜。

      就說這么多吧,我也是剛?cè)∽C,不到之處請(qǐng)見諒。
      作者: 假面    時(shí)間: 2014-1-24 13:08
      luolang1314 發(fā)表于 2014-1-23 09:04
      這個(gè)怎么說呢?TOFD長度測量在灰度圖譜上一般采用的是R弧擬合法確定缺陷長度的端點(diǎn),原理上類似手工超聲6 ...

      謝謝  真沒研究這么細(xì)  回頭再好好研究下

      作者: DZTJS    時(shí)間: 2014-1-26 09:09
      1、缺陷高度的測量是其他方法難以比擬的
      2、效率高
      作者: 楓林晚    時(shí)間: 2014-1-27 09:47
      TORD 與A超相比兩個(gè)優(yōu)勢是很明顯的,1:缺陷的檢出率;2:缺陷高度的測量。自身的局限性:1:上下表面的盲區(qū);2:缺陷定性困難;3:不適合粗晶材料的檢測
      作者: 阿東    時(shí)間: 2014-2-18 19:44
      不錯(cuò),有道理,學(xué)到了。
      作者: 楊會(huì)敏    時(shí)間: 2014-2-21 15:46
      對(duì)于深度的測量精度和缺陷自身高度的精確度較高,以時(shí)間差計(jì)算,不用考慮波幅
      作者: 流浪在外lby    時(shí)間: 2015-7-23 12:02
      多謝樓主分享好資料好資料





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