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標題: TB/T2658.21 鋼軌串列式距離波幅曲線相關疑問（附圖） [打印本頁]
      

      
作者: 小混混    時間: 2013-1-24 10:19
      
標題: TB/T2658.21 鋼軌串列式距離波幅曲線相關疑問（附圖）
      在鐵道行業標準TB/T 2658.21中，附錄C中提到距離波幅曲線的制作，采用雙探頭法掃查軌腰及其延伸部位缺陷是以缺陷深度為橫坐標，以反射波幅度為縱坐標。掃查方法如下圖所示。通過探頭的前后移動找到各個缺陷對應的最大回波處。這五處缺陷的埋深雖不同，但聲程是一樣的，而且都是一樣的反射體，為何更深的缺陷回波幅值低，它們的回波幅值和哪些因素有關呢？求前輩們解答。[attach]4461[/attach][attach]4462[/attach]
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-1-24 22:52
      
聲程是一樣的。也不明白，坐等高人。
      
我再問下：為什么要用斜探頭？為什么要用雙探頭？為什么要用平底孔作參考反射體？
      
作者: 王緒軍    時間: 2013-1-25 10:59
      
這個問題要解答得清清楚楚最好請教南車戚墅堰機車車輛工藝研究所有限公司 萬升云博士
      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-1-25 16:51
      
如果反射體都處于遠場中，到達反射體的聲壓與發射探頭到反射體的聲程成反比，而通過反射體到接受探頭的聲壓與剩余聲程成反比，當總聲程一定時，兩者的差越小其乘積越大，故最深處回波最小！
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-1-26 11:31
      

      丁偉臣 發表于 2013-1-25 16:51 
      
如果反射體都處于遠場中，到達反射體的聲壓與發射探頭到反射體的聲程成反比，而通過反射體到接受探頭的聲壓 ...

      
原來是這樣啊 謝謝了
      

      
作者: manzi    時間: 2013-1-26 21:12
      
{:soso_e163:}
      
作者: 滄海    時間: 2013-2-11 22:17
      
{:soso_e179:}
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-14 14:33
      

      丁偉臣 發表于 2013-1-25 16:51 
      
如果反射體都處于遠場中，到達反射體的聲壓與發射探頭到反射體的聲程成反比，而通過反射體到接受探頭的聲壓 ...

      
丁工：您好！在這個應用中，聲稱一樣，那么每個平底孔的回波在橫坐標都是一樣的，那么這個dac曲線是如何制作的呢？
      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-14 20:23
      
根據平底孔的深度進行畫圖
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-14 20:27
      

      丁偉臣 發表于 2013-3-14 20:23 
      
根據平底孔的深度進行畫圖

      
但是不管是哪個深度，聲程也就是橫坐標的點位置都一樣的啊？
      
還有這種方法能夠用pa代替嗎？如能該怎么做？謝謝指點
      

      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-14 20:54
      
哈哈，具體深度定位是由探頭掃查位置計算而得的，不是屏幕上讀數呀！PA也可以解決一些問題！每種方法都有局限性！
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-14 21:08
      

      丁偉臣 發表于 2013-3-14 20:54 
      
哈哈，具體深度定位是由探頭掃查位置計算而得的，不是屏幕上讀數呀！PA也可以解決一些問題！每種方法都有局 ...

      
您的意思是看兩個探頭的距離來推出深度？探頭相隔越近則缺陷越深？用相控陣如何取代？能簡單說說嘛？
      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-14 22:01
      
是的！相控陣測量其原理仍舊是脈沖反射，與TOFD有本質區別，特別針對與工件掃查面垂直的光滑缺陷，檢出能力不及TOFD！
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-15 12:49
      

      丁偉臣 發表于 2013-3-14 22:01 
      
是的！相控陣測量其原理仍舊是脈沖反射，與TOFD有本質區別，特別針對與工件掃查面垂直的光滑缺陷，檢出能力 ...

      
采用相控陣技術的話，也是需要兩個探頭這樣排列嘛？對于這個鋼軌的應用，您認為TOFD會更好？
      

      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-15 19:44
      
當然不是兩個探頭了！單個多晶片電子聚焦探頭！
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-15 20:11
      

      丁偉臣 發表于 2013-3-15 19:44 
      
當然不是兩個探頭了！單個多晶片電子聚焦探頭！

      
那對于垂直的缺陷不是也不好檢測嗎？
      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-15 21:42
      
正是！{:soso_e115:}
      
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-16 00:58
      

      丁偉臣 發表于 2013-3-15 21:42 
      
正是！

      
樓主提到的這個串聯式的掃查方法好像是針對垂直于檢測面的缺陷（考慮的是鋼軌所以這樣），而我們只有脈沖反射法的相控陣的話卻不能做到這點了？是否采用TOFD更好呢？但焊縫長度只有不到20mm的
      
作者: 丁偉臣    時間: 2013-3-16 22:48
      
如果缺陷是純粹未熔合可能相控陣不能發現，但TOFD可容易發現。但一般坡口未熔合可與渣伴生，也可發現一些此類缺陷。




      

      

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